stm32 工业按键检测_按键可靠性设计及按键检测原理实现

作为宇亚高科UNITEC第二篇文章，是与第一篇文章相互呼应的，在第一篇文章提到了程序任务定时轮询执行，此篇文章我们就讨论如何在程序任务定时轮询执行情况下进行按键检测；

按键电路比较多，很多是直接连接在单片机IO口上，这种方式可靠性是不高的，当雷击或其他从按键引人浪涌电压的时候，很容易击坏单片机IO口，为此以下按键电路方案我们可以使用(如图1)，这个在工控类行业性价比适中的，基本原理为：按键KEY1上拉并接入PNP三极管的基极，电容C2的上端KEY_1接入单片机的IO口，IO口应设为上拉，当没有按键按下时(KEY1未按下)，三极管基极为高电平，其为截至状态，即KEY_1为高电平；当有按键按下时(KEY1按下)，三极管基极为低电平，三极管导通，即KEY_1为低电平，此时通过检测IO口，就能知道按键是否按下；

图1 按键硬件原理

上述为硬件原理，下面重点讨论通过定时任务轮询程序架构下，如何构建按键检测程序：

1、按键IO口初始化

按键应设置为输入上拉，在STM32下面为：

RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_GPIOA ,ENABLE);//<