计算机老化测试的目的,关于平板电脑可靠性测试目的以及项目分析

受在线教育、远程办公等需求的拉动，平板电脑的市场需求呈上升趋势，平板电脑的受众人群涵盖了中小学生、大学生、已工作人员，圈层广泛，在学习、办公、娱乐方面，广受用户青睐。平板电脑具有小型、可携带的特点，以触摸屏作为主要的输入设备，用户可通过手指或者触控笔直接进行操作，无需键盘和鼠标，因此十分便捷。在平板电脑功能多样化、发展扩大化的当下，对于平板电脑的品质要求更为严格，因此在生产制造的过程中，就需要对平板电脑进行各种性能测试，可靠性测试就是其中一种。

平板电脑的可靠性测试主要是为了测试其性能是否达到标准要求，通过模拟平板电脑在不同环境下的使用情况，来进行可靠性的评估。平板电脑可随时随地移动，在移动过程中可能会经历不同环境的变化，如温湿度、冷热冲击、振动、挤压、跌落等等；也有可能会遭到自然性的破坏，如盐雾、水滴、紫外线、太阳光等。

甚至会因为某些不当操作而造成损坏，如跌落、摩擦、油污、汗渍侵蚀、连接插拔过于频繁等等。这些原因都有可能导致平板电脑发生故障，致使无法使用。所以为了提高平板电脑的可靠度和确保其使用寿命，必须对平板电脑进行多项可靠性测试， 测试中需要用到连接和导通的模组。

平板电脑可靠性测试项目包括高低温环境下的操作、循环、存储测试，冷热冲击测试，老化测试，湿热测试、高空跌落测试，耐盐雾、耐腐蚀测试、抗冲击、振动测试等等。平板电脑的触摸屏、摄像头、电池等组件以及内部电路和连接器的连接、传输等也都需要经过测试。测试中有电流传输和信号导通的需求，可用弹片微针模组进行连接。

弹片微针模组在平板电脑测试中拥有稳定的连接功能，在大电流传输中，能通过1-50A范围内的电流，且连接稳定，无电流衰减，可更好的保证平板电脑通过大电流测试。在小pitch领域内，特别是≤0.2mm的pitch中，都可保持极佳的连接性能，即使长时间应对也不会卡PIN、断针，表现力和寿命都远超其他模组。平均20w次以上的使用寿命，在平板电脑大批次高频率的测试中保持超强的连接性，提高平板电脑的测试效率，还能在最大程度上节省时间和物力成本，避免材料的浪费。

平板电脑可靠性测试是验证平板电脑质量、性能的直接途径，对于测试设备的选择以及各个环节的把控都很重要，弹片微针模组可满足平板电脑的测试需求，有着不可替代性，可保证平板电脑测试的稳定进行，对提高测试效率也有很大帮助，是非常值得选择的连接模组。

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