变压器绕组降低邻近效应_高频平面变压器绕组损耗分析及参数优化设计

摘要：针对高频电源变换技术的需求，分析了高频工作条件下，铜箔绕组的交流阻抗、结构参数和绕制方式对平面变压器损耗的影响，研究了并联绕组结构的损耗特征及影响因素。根据研究和仿真分析结果，提出了高频工作条件下低损耗平面变压器绕组的几种结构优化设计方案，并进行了Maxwell 3D 仿真对比分析。研制完成了高频平面变压器样机，最后进行了变压器的参数测试及分析和相应的电源变换模块带载试验，得到了效率最高、温升最低及变化最平稳的平面变压器绕组设计方案。结果表明，并联绕组交叉结构能够减小变压器高频损耗、降低温升和提高效率。关键词：平面变压器；绕组损耗；交叉绕组；温升

目前高频化是电源变换模块高效轻小型化的一个重要技术发展趋势，而变压器作为电源变换模块的核心元件，高频化将给变压器热耗及性能带来严重影响。

变压器在重量轻、体积小的要求下，实现高可靠、高功率密度能量传输的关键是降低变压器的热损耗， 主要途径包括磁芯和绕组结构的优化设计，本文重点从平面变压器绕组结构设计的角度讨论降低变压器损耗的技术方法[1]。平面变压器绕组损耗受交流阻抗等寄生参数的影响。而高频时，由于集肤和邻近效应的影响，绕组层厚度、层数和结构等都将对寄生参数产生严重的影响[2]。

本文以铜箔作为绕组材料， 以Maxwell 3D 电磁场有限元软件为仿真工具，分析了高频下，损耗与铜箔厚度、层数的关系，得到了绕组并联时损耗的变化特点，在此基础上，提出了几种变压器设计方案， 并仿真分析了对这几种排列形式的能耗，确定了最优绕组结构，并研制了变压器样件，进行了实验，验证分析方法有效可靠。

01 高频下不同厚度和层数绕组的
损耗分析

对厚度分别为0.05、0.1、0.2 和0.3 mm 以及并联层数分别为1~4 层的16种绕组，施加频率为200kHz、10A的电流，此时铜的集肤深度为0.15mm，得到绕组损耗如表1 和图1 所示。

高频下，薄铜箔的单层单位长度损耗随厚度增加而减小，最后趋于稳定；单位长度总损耗在总厚度小于π倍的集肤深度时不断减小；铜箔单层厚度为0.2 mm 或0.3 mm，层数为2 或3 层时，铜箔单位长度总损耗较小，但3 层时每层损耗更小，可根据情况，采取2 层或3 层铜箔并联。

02 高频下不同排列的绕组损耗分析

本文采用绕组交叉布置结构的方法对变压器结构进行优化，以使绕组中的电流密度较小并分布均匀。

2.1

并联绕组不同结构的磁势分布

以匝比1:1的平面变压器为例，分析不同排列方式绕组电流密度的分布情况。变压器原边布置2层绕组，每层1匝，层与层之间并联，电流为Ii；副边2层绕组并联，每层1匝，绕组电流为Io。2种变压器的绕组布置结