aep内存用法_一种AEP内存接口的压力检测方法及系统与流程

本发明属于内存接口检测领域，具体涉及一种AEP内存接口的压力检测方法及系统。

背景技术：

AEP内存简称Apache Pass DIMMs，为高性能和灵活性而设计的，The Intel® Optane™ DC persistent memory (DCPMM)是新一代直流持久记忆非易失性存储器模块，引入Optane™媒体技术记忆媒体DDR4形式因素。支持内存操作模式是Memory Mode (volatile)和App Direct (persistent memory)。AEP内存接口测试是随机流量最大化内存测试，创建一个实际的高负载情况下压力系统内存，测试计划必须包括矩阵的计划DCPMM(2 LM)DIMM的入口，在每个支持Linux操作系统环境，确定可用的系统内存映射的数量以兆字节为单位，执行stressapptest指定映射系统的只有90%内存和一个扩展的时间压力测试，消费所有内存资源将导致一个非常缓慢的或没有响应系统

目前AEP内存接口测试的方法比较少，更是没有一种随机流量最大化内存压力测试的方法，然而在未来的5G技术高延迟要求下，随机流量最大化测试将是一种必须衡量的测量工具，以保障低延迟、快速回馈的系统响应。

此为现有技术的不足，因此，针对现有技术中的上述缺陷，提供一种AEP内存接口的压力检测方法及系统，是非常有必要的。

技术实现要素：

本发明的目的在于，针对上述AEP内存接口测试