元器件的升级筛选就是指把原来处于一定质量等级的一批电路，通过一系列的试验、分析使它高于原来的质量等级。
实际上，元器件的个体质量等级在设计、生产中已经确定，个体的质量等级从它形成产品时就已经固定下来。对于各等级的一批元器件，如用户对其批次的固有质量等级不满意，就可以采取一定的技术手段，使之“升级”。
国内外许多高可靠工程在选用电路时均遇到元器件质量等级较低，不能满足需要的情况，在质量、价格、进度等多种因素的综合影响下，升级已得到大家的共识。但是升级的程度以及如何升级则各有其不同的确切要求和做法。
所谓“升级”，有三层含义。
(1)升级本身并不能提高元器件个体的等级，不能改变个体的固有可靠性。
(2)通过升级将会对一批元器件按一定质量等级要求进行某些方面的验证，会按使用要求针对性地发现问题，会产生部分早期失效阶段的信息。
(3)升级本身是摸底试验，也是一种“放心运动”，将起到增强使用者信心的作用。
(1)有时用户选人并才而卡可以已拥满有足高质量高可靠等级的电路，通过升级试验，增加了用户设计和选用的范围，从而可以满足高可靠工程型号对高可靠集成电路的需要，保证了高可靠工程的质量和可靠性水平的实现。
(2)可以加快采购进度并降低成本。为用户提高整机可靠性水平提供一种电路选用方式，已经在国内外许多重要的高可靠工程型号中应用，满足了工程型号对电路质量可靠性的要求，满足了工程进度要求。
(3)元器件升级筛选起到了质量把关作用。在实际的升级筛选中，发现一些批次电路存在质量问题，如某型号进口集成电路SNJ 54HC15IJ，在DPA中发现键合拉力不合格，决定整批电路不能在型号中使用。
以集成电路为例，简要说明一下元器件升级试验的实施过程。
1、升设筛选的试验设计
方案设计是升级试验工作的关键，设计必须考虑以下几个方面。
(1)升级要结合集成电路的原始质量等级。集成电路电路原始质量等级决定了电路的经历和状况。如进口883级的集成电路，其筛选项目和应力是确定的，生产厂在供货时应提供证明文件，证明其经历的筛选。但是进口883级集成电路无质量一致性检验的证明文件，一般也未进行破坏性物理分析。这些情况是集成电路的重要原始信息，是设计升级方案设计的重要基础。
(2)升级要考虑用户工程特点及特殊要求。用户工程要求是升级设计的依据，如对于高可靠长寿命的卫星工程，升级设计要考虑到B组检验中增加内部水汽含量的要求，筛选中考虑颗粒碰撞噪声检测(PIND)试验的要求。
(3)升级设计要利用生产厂产品质量信息。这项工作取决于升级设计者对生产厂工艺水平、质量保证以及以往产品质量状况的了解，在筛选、B组检验和DPA中采取针对性的措施。
2、升级试验进行方式
电路的升级试验工作常常由独立实验室实施；如果用户有条件，也可以自己进行升级试验；还可以由用户委托生产厂按要求对所采购的产品进行升级。但 是目前较多的是由独立实验室负责实施。独立实验室按照用户的要求和电路的 原始等级情况编制升级试验工作计划，由用户确认后实施。也可以由用户提出 计划交一个或者几个独立实验室实施。国外有许多这种独立实验室为用户服务。国内也有类似单位可以进行升级筛选方案设计和实施。
3、升级方法的实施
如何进行一种需要升级的电路工程化的实际升级操作，这就需要按照上述的要求进行工作，制定可操作的具体程序。一般地说，电路的升级试验至少应按照以下程序进行。
(1)集成电路原始质量等级调研。到货的电路是B级还是883级，这是对项目进行具体设计的基础。可以根据到货文件来确定。
(2)生产厂产品质量信息分析。
(3)升级试验项目的确定。一般分为升级筛选、B组检验和DPA。也可以取其中的一项或者两项作为实施的项目。升级试验的承担者向委托用户提出具体的方案。
(4)升级试验规范的编写。要将确定的升级项目具体化，升级筛选需要列出筛选程序、采用的试验方法、是100％还是抽样(包括抽样方案)、试验前后电参数值的规定、PDA的规定、接收／拒收判据等。这些可以采用表格化流程卡形式进行具体操作，规范还应规定数据如何记录和保存等要求。试验规范是升级试验的工作大纲和要求。
(5)升级筛选的试验实施。进行升级筛选，需要有满足技术条件的硬件和软件条件，需要专门的工程管理和技术人员。试验的实施要满足工作陈述的规定。在美国，有一些专业实验室从事这项工作，专业程度较高，分工比较明确，有一定的工程经验。国内也有一些单位可以实施部分升级试验，也具备了一定工程经验，并开展了大量升级试验的工作。在实施中要注意杜绝操作不当对电路的损伤，注意防静电等操作。
(6)失效电路的失效分析。如果在升级试验中出现电路失效，需要对失电路进行失效分析。失效分析程序和方法参照相应的标准和规定来实施。国内 也有失效分析单位有能力进行电路的失效分析。
失效分析的结果将对处理整批次电路起重要作用。
(7)结果的的评价。根据升级试验结果给出元器件质量特性。
内容来源：国防工业出版社《电子元器件使用可靠性保证》/主编付桂翠
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