74LS164串转并实验
本实验是用74LS164把输入的串行数转换成并行数输出,74LS164为串行输入并行输出移位寄存器,其引脚图及功能如下:
A、B:串行输入端;
QA~QH:并行输出端;
CLR:清零端,低电平有效;
CLK:时钟脉冲输入端,上升沿有效。
实验采用单片机串行工作方式0和P1端口两种方式串行输出数据。串行口工作方式0时,数据为8位,从RXD端输出,TXD端输出移位信号,其波特率固定为Fosc/12。在CPU将数据写入SBUF寄存器后,立即启动发送。待8位数据输完后,硬件将状态寄存器的TI位置1,TI必须由软件清零。
串行口工作方式0数据/时钟是自动移位输出,用P1端口输出数据时,要编程位移数据,每输出一个数据位,再输出一个移位脉冲。
内容及步骤:
本实验需要用到单片机最小系统(F1区)、十六位逻辑电平显示(I4区)和74LS164(G3区)。
1、选用89C51单片机最小应用系统模块,用八位数据线连接74LS164的并行输出JD5G与十六位逻辑电平显示模块JD2I,将74LS164的串行输入端A/B(1和2脚)接到RXD上,CLK接到TXD上,CLR接INT0。
2、用串行数据通信线连接计算机与仿真器,把仿真器插到模块的锁紧插座中,请注意仿真器的方向:缺口朝上。
3、打开KeiluVision2仿真软件,首先建立本实验的项目文件,接着添加“TH23_74164.ASM”源程序,进行编译,直到编译无误。
4、全速运行程序,观察发光二极管亮灭情况,先右移动两次,再左移动两次,然后闪烁两次。
5、也可以把源程序编译成可执行文件,用ISP烧录器烧录到89S52/89S51芯片中。