机电系统计算机控制
课程实验指导书
电子科技大学机械电子工程学院
目录
实验一、采样控制实验3
实验二 二阶PID控制7
实验三 最少拍控制系统14
实验一、采样控制实验
一.实验目的
1. 了解判断采样控制系统稳定性的充要条件,及采样周期T对系统的稳定性的影响。
2.掌握控制系统处于临界稳定状态时的采样周期T的计算。
3.观察和分析采样控制系统在不同采样周期T时的瞬态响应曲线。
二.实验原理及装置
1. 判断采样控制系统稳定性的充要条件
线性连续系统的稳定性的分析是根据闭环系统特征方程的根在S平面上的位置来进行的。如果特征方程的根都在左半S平面,即特征根都具有负实部,则系统稳定。
采样/保持控制系统的稳定性分析是建立在Z变换的基础之上,因此必须在Z平面上分析。S平面和Z平面之间的关系是:S平面左半平面将映射到Z平面上以原点为圆心的单位圆内,S平面的右半平面将映射到Z平面上以原点为圆心的单位圆外。
所以采样控制系统稳定的充要条件是:系统特征方程的根必须在Z平面的单位圆内。只要其中有一个特征根在单位圆外,系统就不稳定;当有一个根在Z平面的单位圆上而其他根在单位圆内时,系统就处于临界稳定。也就是说,只要特征根的模均小于1,则系统稳定;若有一个特征根的模大于1,则系统不稳定。当采样周期设定为临界值时出现等幅振荡。
2. 采样周期T对系统的稳定性的影响
闭环采样控制系统原理方块图如图4-3-3所示:
图1-1 闭环采样控制系统原理方块图
从采样实验中知道采样输出仅在采样点上有值,而在采样点之间无值。如其输出以前一时刻的采样值为参考基值进行外推,即可使两个采样点之间为连续信号过度。可以完成上述功能的装置或者器件就称为保持器。因为数/模转换器(D/A)具有两极输出锁存能力,所以具有零阶保持器的作用。
使用了采样保持器后,采样点间的信号是外推而得的,实际上已含有失真的成份,因此,采样周期信号频率过低将会影响系统的稳定性。采样周期T可由用户在界面上直接修改,在不同采样周期下,观察、比较输出的波形。
三. 实验器材
序号名 称型号与规格数量备注1LabACTn自控/计控实验机1四.实验内容及步骤
闭环采样控制系统实验构成电路如图1-2所示。
图1-2 闭环采样控制系统实验构成电路
其中被控对象的各环节参数及系统的传递函数:
积分环节(A1单元)的积分时间常数Ti=R1*C1=0.2S,
惯性环节(A2单元)的惯性时间常数 T=R2*C2=0.5S,增益K=R2/R3=5。
被控对象的开环传递函数: (1-1)
零阶保持器的传递函数: (1-2)
G(z)为包括零阶保持器在内的广义对象的脉冲传递函数:
(1-3)
将式(1-3)Z变换后,得闭环采样系统的特征方程:
(1-4)
1.临界稳定状态时的采样周期T的计算
采样控制系统稳定的充要条件是:系统特征方程的根必须在Z平面的单位圆内,只要其中有一个特征根在单位圆外,系统就不稳定;当有一个根在Z平面的单位圆上而其他根在单位圆内时,系统就处于临界稳定。根据式(1-4)可知,特征方程式的根与采样周期T有关,只要特征根的模均小于1,则系统稳定。若要求特征根的模小于1,须:
(1-5)
可得:采样周期T<0.0823秒。
2.实验内容及步骤
闭环采样/保持控制系统实验构成电路如图1-1所示,了解采样周期T对控制系统的稳定性的影响及临界稳定状态时的采样周期T的计算。观察和分析采样控制系统在不同采样周期T时的瞬态响应曲线。本实验将函数发生器(B4)单元作为信号发生器,OUT输出施加于被测系统的输入端Ui,观察OUT从0V阶跃+2.5V时,被测系统的在不同的采样周期T时对系统的稳定性的影响。
(1)构造模拟电路:按图1-1安置短路套极插孔连线,表如下。
(a)安置短路套 (b)插孔联线
1控制器输出B4(AOUT1)→A1(H1)2运放级联A1(OUT)→ A2(H1)3数据采集A2(OUT)→ B2(CH2)4控制输出显示B4(AOUT1)→ B2(CH1)
模块号跨接座号1A1S3,S11,S122A2S3,S10,S11(2)软件使用方法
① 双击打开软件,将该串口改成试验箱当前使用的串口,在桌面上右击我的电脑图标,选择管理,单击设备管理器就会出现下图所示的计算机管理界面。找到本机上试验箱所用的的COM口,在上图中选择当前使用的COM口。
② 打开系统