计算机技术在多晶体衍射中的应用,材料研究分析方法(研究生)-XRD2.ppt

材料研究分析方法(研究生)-XRD2.ppt

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§6、计算机在多晶体衍射中的应用 计算机技术在多晶体衍射中的应用主要在三个方面：仪器的控制与数据采集；数据的处理与分析; 网站与数据库的建立和运用。 数据处理，大致可以分为两方面： 一是对实验谱的直接处理，如对数据进行平滑、去噪声、扣除本底、Kα衍射的剔除、确定峰位、半峰宽，峰强度、从2θ到d的换算等，以获得精确的谱参数。 二是依据欲解决的问题对谱参数进一步进行处理和分析为进行这种处理和分析编制的计算机软件常称为应用软件。要解决的问题不同，需使用不同的软件。6.1 实验谱的基本处理一、数据处理的目的和步骤1、干扰信号的排除各种干扰信号归结起来可以分为两类。一类是随机的波动，如光源的发射波动，空气散射，电子电路中的电子噪声等。这些信号一般 表现为幅度不大的随机高频据荡，就统称为噪声，可以用平滑的方法去除；另一类为确定的可重复信号，如非晶材料的散射，这是为数不多的、宽大低矮的“馒头”峰，与陡峭、众多的衍射峰是完全不同的，可以用拟合法来排除。这类非随机高频振荡就称本底。噪声和本底这两个概念并不是很明确，认识并不统一。2、参数测定和数据换算 去除干扰信号后的衍射谱是由在某些2θ位置上的衍射峰构成的。 这些衍射峰所处的2θ位置、峰的高度、面积、形状(峰宽、强度分布)等参数是与被研究样品的各种结构特性(参数)相关的。从衍射谱上测定，换算出这些数据，是以后对这些数椐作进一步分析，得到样品结构参数的基础。3、基本处理的内容和步骤 实验谱基本处理一般包括下列内容：平滑噪声、扣除本底、分离Kα衍射，确定衍射峰的位置，测量峰极大处的强度，获得峰面积(积分强度)，确定峰高一半的全宽度 (FWHM)，数据校正等。二、数据的平滑 数据的平滑主要用来排除各种随机波动。各种平滑方法中，最有名的是Savitzky-Golay在1964年提出的方法。S-G方法主要用在计算机中对各种数字光谱进行滤波(平滑)和微分，此法是用一个简单的数组去卷积数据点，以进行平滑、去噪和微分，此做法等于用多项式对一段数据点进行最小二乘法拟合。被处理的数字谱必须是等间隔釆集的，而且是连续的。1、移动平均取代法(6-1)2、最小二乘法多项式拟合法 用最小二乘法将一个高次多项式，如 (6-2)去拟合平均域中的各数据。所谓最小二乘法就是使下式中之M 最小(6-3)式(6-3)是通过调整式(6-2)中的各ai来达到的。此式的意义是用多项式计算出的数据域中各点值与各点原实测数据间的差的平方和最小。在达到M最小时，得到一个系数组ai，也即得到了多项式y。将数据域中各点的x坐标代人多项式y、计算出 ，并用此 代替原有的yj。移动平均域一个点，重复进行上述拟合过程。求出系数组， 再求另一个y*并取代原有之y。对谱上全部数据点进行这样的拟合及计算取代，以完成一次平滑。3、最小二乘法权重数组平滑法 权重数组在使用不同阶次的多项式， 使用不同的N (N为平滑时所用平均域内包括的数据点的数目)时是不同的。三、本底的测定与扣除 造成本底的原因是很多的，如狭缝、样品及空气的散射等。如使用不变的固定狭缝，则本底在低角度上升。另外，样品中所含非晶态 成分会形成大角度范围内的鼓包，也属本底，需去除。1、 Sonneveld 和 Visser 法 为了测定平滑的本底，他们认为不需太密集的数据点，只要取5%的数据点(n个)就够了。考虑第i个数据点，其值为Pi，取其 相邻两点的值并取平均mi(6-4)将Pi与mi比较，若Pi>mi，说明中间点i之值很可能比相邻两点的值都大。也可能有一相邻点的值比它的值小很多，而另一点则大不了许多，因而i点或i点与比它稍大那点有可能是在峰上，而不是在本底上，因此用mi代替Pi。反之，若Pi10-5cm的同一样品在相同条件下的半高宽图4 衍射峰的宽化程度宽化程度应将样品与同一条件下的标准样品的同一衍射线相比较但事实上很难达到这一点。现大多数采用作图法来求值，其步骤如下：1、在待测样品中，加入与样品不同质的比较粗的标准样品。2、进行粉末样品的XRD分析。将产生粗颗粒的敏锐峰和待测样的弥散峰。3、分别测定两类峰的b,b0。4、求出敏锐峰的和半高宽b0的关系；用内插法求出与试样对应的位 置()的b0值，算得b0/b。则＝b-b0。可变为这样，便可以从右图中求出测定步骤1、样品处理 1)样品必须先消除内应力，以防不均匀应变使衍射线变宽。 2)选用标准样品(-Al2O3或-SiO2)粒度为10-4cm左右。此时 不存在晶粒大小引起的宽化问题，只可能有K双线加宽和仪器加宽。 3)选择合适的衍射线进行分析计算，力求无干扰。 4)将分析样品与标样匀化制样。2、数据收集3、数据处理 1)采用前述作图法求得值 2)用(6)式计算晶粒大小图6 只有尺寸宽化ZnO的峰宽随2变化利用某布拉格角为的衍射线的线宽来求晶粒尺寸D，D是该衍射的反射面族法线方向的晶粒厚度。若晶粒具有一定的形状，在不同方向(hkl)上有不同的尺寸，则相应面族的衍射峰会有不同的峰形和峰宽，从不同衍射线算得的不同晶粒尺寸可以估计晶粒的外形。 图6为一种只有晶粒宽化没有应力宽化的ZnO样品的H(半高宽)对2的图。可看出， H对2不是单调变化的，不同衍射的H相差很大，是各向异性的。 H最小的两个衍射是(002)和(004)，说明在c轴方向晶粒尺寸较大。(h0l)的各衍射的H分布在0.45左右，与(001)型相较，对应尺寸较小。(h0l)晶面的法线均垂直于c轴，据此可推倒此ZnO晶粒似为一长方柱体。 关 键 词： 分析 方法 xrd2 研究 研究生 材料 xrd

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