测试环境：Dell R510，2×E5620，24G，Fusion-io ioDrive 320G MLC
测试工具：Redhat Linux 5.3，Oracle Orion 11
测试一：8K随机读，IOPS超过5W，吞吐量超过400M，响应时间在IOPS达到4W时出现拐点(超过1ms)，并迅速上升至最高值9.5ms。
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测试二：4K随机读，IOPS超过7W，吞吐量达到280M，响应时间在IOPS达到7W时保持在1ms以下，随着并发压力不断增大，IOPS出现波动，响应时间逐步增加。
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测试三：128K连续读，IOPS迅速上升至5000时，到达吞吐量瓶颈(700M)，此时响应时间小于10ms，随后并发压力增大，IOPS与吞吐量指标无变化，响应时间迅速上升。
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测试四：8K随机写，IOPS到达5.8W，响应时
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