服务器系统板电池失效,记阵列卡电池失效引起的IO性能故障

本文描述了一台运行ESX4.1的Dell服务器出现VM运行缓慢的问题,通过分析发现IO滞后时间高及Raid卡电池健康状态不佳可能是原因。更换电池并调整Cache策略后,性能恢复正常。问题的关键在于IO性能和Raid卡电池状态对服务器整体性能的影响。

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一台Dell服务器,购于2009年,安装ESX 4.1,近日陆续接到使用部门反映“VM运行缓慢”。

观察机器上开着的VM约10余台,CPU使用率约50%,内存的使用率约60%,负载不重。

该机器存储的平均写入/读取滞后时间(50ms)明显高于其他机器(5ms),怀疑瓶颈在IO。

同时机器Raid 卡电池报错,处于health not good 状态(已有数周时间,因采购手续再加上觉得问题未及时更换)。

然后查看阵列卡TTY日志,

Current Cache Policy: WriteThrough, ReadAdaptive, Direct, No Write Cache if Bad BBU

HDD0 Media Error Count: 2

Cache Policy为WriteThrough 而非 WriteBack。

果断联系供应商立即送块电池来,更换电池后恢复正常,观察性能图表,滞后时间在5ms左右。

原因是BBU处于Learning 状态,自动把Cache策略改为WriteThrough.

感谢大神的文章:http://www.igigo.net/archives/251

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