显微镜C接口_原位透射电子显微镜光学-光电测量系统应用案例

ZnO是一种重要的II-VI族半导体材料。它拥有高达60 meV的激子结合能,以及25 meV的热激活能。ZnO纳米线可以被用于制造导波管,纳米激光器,光探测器,以及发光二极管。在这些光学应用中,激子与纵向光学声子(LO)之间的耦合特性一直是研究者们讨论的重点。这种耦合特性往往与晶格结构以及应力产生的缺陷有关。结合原位透射电子显微镜光学-光电测量系统(ZepTools Technology Co., Ltd.),研究者在TEM中原位测量施加了不同应力ZnO纳米线的阴极发光谱(CL),揭示了该材料结构特性与这种耦合特性之间的联系。相关研究成果发表在《APPLIED PHYSICS LETTERS》上。

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图1:(a) 原位透射电子显微镜光学-光电测量系统应用原理图;(b) 单根ZnO纳米线的TEM图像,电子束被聚焦在纳米线的末端。(c) 图解ZnO纳米线的发光机制; (d) 典型的CL谱。


ZnO纳米线被安置于原位TEM光学-光电测量样品杆上,一个2 mm直径的光纤通过一个可以三维操纵的纳米操纵探针引到样品处。纳米操纵探针不仅可以辅助找准测试位置,还可以用于选择和操纵单根纳米线。单色仪和CCD与光纤接口连接并用于接收信号。

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图2:改变电子束聚焦在纳米线上的位置,可以得到不同的CL谱。

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图3:使用纳米操纵探针给纳米线施加不同的应力,可以观测到CL谱峰位的偏移。

安徽泽攸科技有限公司

ZepTools Technology Co., Ltd.

邮箱:support@zeptools.com

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内容概要:本文详细介绍了施耐德M580系列PLC的存储结构、系统硬件架构、上电写入程序及CPU冗余特性。在存储结构方面,涵盖拓扑寻址、Device DDT远程寻址以及寄存器寻址三种方式,详细解释了不同类型的寻址方法及其应用场景。系统硬件架构部分,阐述了最小系统的构建要素,包括CPU、机架和模块的选择与配置,并介绍了常见的系统拓扑结构,如简单的机架间拓扑和远程子站以太网菊花链等。上电写入程序环节,说明了通过USB和以太网两种接口进行程序下载的具体步骤,特别是针对初次下载时IP地址的设置方法。最后,CPU冗余部分重点描述了热备功能的实现机制,包括IP通讯地址配置和热备拓扑结构。 适合人群:从事工业自动化领域工作的技术人员,特别是对PLC编程及系统集成有一定了解的工程师。 使用场景及目标:①帮助工程师理解施耐德M580系列PLC的寻址机制,以便更好地进行模块配置和编程;②指导工程师完成最小系统的搭建,优化系统拓扑结构的设计;③提供详细的上电写入程序指南,确保程序下载顺利进行;④解释CPU冗余的实现方式,提高系统的稳定性和可靠性。 其他说明:文中还涉及一些特殊模块的功能介绍,如定时器事件和Modbus串口通讯模块,这些内容有助于用户深入了解M580系列PLC的高级应用。此外,附录部分提供了远程子站和热备冗余系统的实物图片,便于用户直观理解相关概念。
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