干涉条纹数目与什么有关_等厚干涉现象的观察和测量讲义

等厚干涉现象的观察和测量

牛顿环和劈尖属典型的等厚干涉，它们都是由同一光源发出的两束光，分别经过其装置所形成的空气薄膜上、下表面反射后，在上表面相遇产生的干涉现象。利用光的干涉现象可以测量微小角度、微小长度、微小直径及检测一些光学元件的球面度、平整度、光洁度等。

【实验目的】

1. 利用牛顿环测透镜球面的曲率半径；

2. 利用光的劈尖干涉测细丝直径(或微小厚度)；

3. 熟悉读数显微镜的使用和用逐差法处理实验数据。

【实验原理】

一列单色光波垂直入射到透明的空气薄膜上时，薄膜上、下两表面反射产生的两束相干光，在相遇时具有下式所示的光程差

                       Δ＝2nd＋λ/2                                        (1)

式中d为光线入射处薄膜的厚度，其中λ/2是考虑到入射光在下表面反射有半波损失而在上表面反射没有半波损失。

如果入射光束为平行光，那么相干光束间的光程差仅取决于薄膜的厚度，同一级干涉条纹对应的薄膜厚度相同，这就是所谓等厚干涉。本实验应用等厚干涉的圆形条纹和直线条纹，分别测量透镜表面的曲率半径和微小长度。

1. 牛顿环

牛顿环是牛顿于1675年在制作天文望远镜时，偶然将一望远镜的物镜放在平玻璃上发现的。

实际上由于透镜与平玻璃不能理想的相切以及它们之间的接触因有压力而产生畸变，所以较精确的方法是测距圆心较远的2个环的半径或直径差。若以r_n表示为第n个暗环的半径，r_m表示第m个暗环的半径(m>n)，分别以n、m代入式(6)中的k，有暗环:

，

两式相减