,2005
收稿日期
:2004
2
07
2
29
;
修改日期
:2004
2
10
2
24
基金项目
:
国家自然科学基金资助项目
(
No
:50172054
)
作者简介
:
黄彦林
(
1966
-
)
,
男
,
河南郑州人
,
中原工学院教授
,
博士
,
从事矿物材料开发应用
、
人工晶体的生长
、
发光性
能和微结构研究
.
X
射线激发荧光光谱仪的建立及闪烁晶体发光表征
黄彦林
1
,
冯锡淇
2
,
朱洪全
3
,
朱文亮
2
(
1.
中原工学院
材料与化学工程系
,
河南
郑州
450007
;
2.
中国科学院
上海硅酸盐研究所
高性能陶瓷与超微结构国家重点实验室
,
上海
200050
;
3.
诸城市城北职工子弟学校
,
山东
诸城
262200
)
摘
要
:
利用
X
射线作为激发光源
,
自行组装并实现计算机控制的
X
射线激发荧光光谱仪
.
介绍了
X
射线激发荧
光光谱仪的建立及其结构特性
.
该仪器具有时间分辨率高
、
测量动态范围大
、
使用方便等优点
,
可应用于晶体
、
粉末和液
体等各种样品的测量
,
该仪器同时还具有很强的扩展性
.
关键词
:X
射线
;
激发
;
荧光光谱
;
光谱仪
;
闪烁晶体
中图分类号
:
T
H744.
16
;
O433.
1
文献标识码
:A
文章编号
:1005
2
4642
(
2005
)
05
2
0024
2
04
1
引
言
物质在
γ
射线或高能粒子作用下产生脉冲光
的现象称为闪烁效应
,
这些物质被称为闪烁体
.
无机闪烁晶体具有密度高
、
透明和闪烁性能优良
等优点
,
从而在已经实用的闪烁材料中占据了重
要地位
.
自从
1948
年
Hoftadter
发现
NaI
(
Tl
)
晶
体的优良闪烁性能以来
[
1
]
,
经过半个多世纪的努
力
,
逐渐发现了如
Bi
4
Ge
3
O
12
(
B
GO
)
,
CsI
,BaF
2
,
PbWO
4
(
PWO
)
,
CeF
3
,L
u
2
SiO
5
,LaCl
3
和
LaBr
3
等性能优良的闪烁晶体
,
极大地拓宽了闪烁晶体
在高能物理与核物理
、
医疗
、
安全检查等领域的应
用
[
2
~
5
]
.
如今
,
无机闪烁晶体已经成为这些高新
技术领域中不可缺少的关键材料
.
应用上对无机闪烁晶体提出新的要求
,
促使
了对闪烁晶体的深入研究
,
从而使闪烁机理得到
了丰富和发展
.
在闪烁晶体的研究过程中
,
闪烁
和发光性能的表征无疑是至关重要的
[
6
]
.
90
年代
中后期
,
美国加洲大学洛仑兹伯克利国家实验室
研究开发了一种以脉冲
X
射线作为激发光源的
寿命光谱仪
[
7
,8
]
,
使用灵活方便
,
寿命测量动态范
围大
,
并可适用于晶体
、
粉末及液体等各种样品测
量等特点
,
在新型闪烁材料的研究和发现上曾经
发挥了重要作用
.
闪烁晶体是我国的优势领域
,
尤其是晶体制
备能力和水平为国际所公认
.
我国近年来对于闪
烁性能的测试研究也有很大的进步
,
例如中国科
学院上海硅酸盐研究所为提高测量
PWO
晶体发
光性能的精确度
,
建立和发展了适合于低光产额
的
γ
能谱拟合和解谱的方法
;
温度监察系统和温
度修正方法
;
建立了单光子延迟符合法测量荧光
衰减时间装置
;
建立了可进行
3
种辐照方式可调
辐照剂量的辐照装置
;
这些装置不仅能精确地测
量闪烁性能
,
也为
PWO
晶体的性能研究提供了
很好的基础
.
在闪烁晶体的各个性能参量中
,
发射光谱是
一个非常重要的性能指标
,
对晶体的开发和性能
的研究有很重要的意义
.
在一般情况下
,
传统的
发光材料荧光光谱的测量采用氙灯作为激发光
源
,
其发射光大多在紫外波段
,
基本能够满足需
要
,
光致发光
(
Photoluminescence
,PL
)
中
,
光谱的
测试是在样品表面完成
,
晶体的表面状态对光谱
形状有很大影响
;
但是对于闪烁晶体
,
采用紫外激
发不能有效地探测其荧光
,
因为在闪烁晶体的发
光中存在着快
、
慢分量
,
采用紫外激发只能测到慢
分量
,
而快分量却是我们主要感兴趣的
.
用
X
射
线作为激发源可探测到晶体内部发光
,
更真实地
反映闪烁晶体在实际使用时的发光状态
.
在长期研究和实践的基础上
,
自行组装了
1
台
X
射线激发荧光光谱仪
(
FluorMain
,X
2
ray
ex