1 前言
具有混合信号功能的芯片正越来越多地出现在人们的生活中。通讯领域的 MODEM、 CODEC 和飞速发展的手机芯片,视频处理器领域的MPEG、DVD芯片,带有内嵌的ADC或DAC的微控制器芯片,以及各种DSP、图象处理器、网络转换器和磁盘驱动器芯片,都属于这一类。当然,由于这些芯片的应用不同,其工作的频率和所要求的精度也各不相同。但是,这一类芯片有着共同的特点, 就是其内部具有AD/DA或PLL模块。对于这一类芯片的测试,我们称之为混合信号测试。
2 混合信号测试对测试设备的要求
混合信号测试对测试设备提出了更高的要求。
对于一片具有AD/DA功能的芯片,需要建立的测试条件:
● 对于ADC通路,测试系统需要通过波形发生器产生适当的激励信号,同时,通过自身的数字通道采集ADC的输出信号并进行运算。
● 对于DAC通路,测试系统需要通过数字通道产生适当的激励信号,同时,通过自身的波形采样器采集DAC的输出信号并进行运算。
● 无论对于ADC或者DAC测试,要确保系统的模拟模块,即波形发生器和波形采样器,与系统的数字通道同步。
● 系统需提供丰富的内置函数,迅速完成对采集信号的运算,实现对ADC/DAC的静态和动态特性的测试。
对于具有PLL功能的芯片,需要建立的测试条件:
●