硬件基础-开尔文电桥法

开尔文电桥法是一种用于高精度测量小电阻的方法,通过双臂结构减少引线电阻和接触电阻的影响。依据基尔霍夫电压定律,通过调节桥臂电阻使得检流计指示为零,从而计算出被测电阻。该方法特别适用于1欧姆以下电阻的测量,有效地削弱了导线电阻对测量结果的干扰。

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硬件基础-开尔文电桥法

前言

在电阻测量、标定中,主流存在两种电桥测量方法:
1、慧斯顿电桥(单臂电桥法):更多倾向于简单测量,精度要求不高;
2、开尔文电桥(双臂电桥法):有效减少了慧斯顿电桥测量过程中引线电阻和接触电阻对电路产生的误差,能够实现小电阻(1欧姆)的高精度测量
注:慧斯顿电桥原理过于简单,不再进行赘述。

一、理论基础

基尔霍夫第二定律(基尔霍夫电压定律):KVL
沿着闭合回路的所有电动势的代数和等于所有电压降的代数和。
特别需要注意的:KVL不仅适用于回路,也适用于任何闭合节点序列。

二、使用步骤

1.经典结构

在这里插入图片描述

2.原理分析

在这里插入图片描述

图2 卡尔文电桥分析示意图

图中,R1,R2,R3,R4为桥臂电阻;RN为标准电阻;RX为被测电阻。通过调节桥臂电阻,当检流计指示为零时(IG=0),即I4=I3,根据基尔霍夫定律可推得:
I 1 R 1 = I 2 R 3 + R N I 3 I_{1}R_{1} =I_{2}R_{3}+R_{N}I_{3} I1R1=I2R3+RNI

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