蓝桥练习题：芯片测试

芯片测试：统计

题目：
本题的考察点是统计的知识。

这样考虑一下：
对芯片A，如果它是“好的”，一方面，所有坏的芯片对A的检测结果好坏各占50%，另一方面，所有好的芯片对A的检测结果都是“好的”，题意一开始也说了，芯片有好有坏，并且好芯片比坏芯片多，那么综合起来，A被检测的结果是“好的”的概率>=50%
对芯片A，如果它是“坏的”，一方面，所有坏的芯片对A的检测结果好坏各占50%，另一方面，所有好的芯片对A的检测结果都是“坏的”，综合起来，A被检测的结果是“好的”的概率<50%

经过上面的分析，就很容易判断一块芯片的好坏了，实际上就是看是否有至少半数的芯片（不包括被测试的芯片）对被测试的芯片的测试结果是“好的”，是，它就是“好的”，否则，它就是“坏的”。




代码：

#include<bits/stdc++.h>
using namespace std;
const int MAX = 20+2;
int n, f;
int t[MAX][MAX], ans[MAX];

int main(){
	cin>> n;
	f = (n-1)/2;
	
	for(int i=0; i<n; i++){
		for(int j=0; j<n; j++){
			scanf("%d", &t[i][j]);
		}
	}
	
	for(int i=0; i<n; i++){
		for(int j=0; j<n; j++){
			if(i!=j && t[i][j]) ans[j]++;
		}
	}
	
	for(int i=0; i<n; i++){
		if(ans[i]>=f) printf("%d ", i+1);
	}
	
	return 0;
}