android APP 内存泄漏检测工具—Profiler+MAT

内存泄漏（Memory Leak）：在程序中申请了一块内存，由于某种原因一直未释放，造成系统内存的浪费，如果不断的申请还会导致内存溢出（Out Of Memory，OOM）。

介于项目客观条件限制，故使用**Android Studio的 Profiler和MAT（Memory Analyzer Tools）**来分析内存泄漏问题。
在真机上检测内存泄漏，需要打开ADB调试

一、Android Profiler

1、打开方式： View > Tool Windows > Profiler
2、启动方式：点击 + 加载对应app进程

3、添加设备后，运行Profiler

4、点击MEMORY后，显示如下界面
1）、下图中1的位置：Dump java heap
2）、下图中2的位置：stop the current profiling session

5、点击Dump java head 后，开始记录，生成Heap Dump

6、右键Heap Dump（上图中2的位置）——Export——选择位置进行保存

二、MAT（Memory Analyzer Tools）

1、MAT工具下载地址 (https://www.eclipse.org/mat/)

特别需要强调
保存后的文件通过sdk里的hprof-conv.exe转换格式,否则用MAT软件无法打开，弹出如下的提示

hprof-conv.exe所在路径如下：

通过CMD进行转换~

2、打开MAT工具

3、打开转换后的 Heap Dump文件
File——Open Heap Dump…——选择文件——打开——Finish

4、create a histogram（直方图）——点击图中圆圈位置

生成的Histogram中：

Shallow Heap ：指对象本身占据的内存大小（不包含其引用的对象），对于常规对象（非数组）指的是其成员变量的数量及类型；对于数组类型的对象指的是数组元素大小的总和，包含数组类型及数组长度。

Retained Heap：当前对象的大小+当前对象可直接或间接引用到的对象的大小的总和，并且不包含被GC Roots 直接或间接引用的对象

在下图圆圈位置输入Fragment\Activity ,进而排查泄漏位置

右键其中一个
1)、Merge Shortest Paths to GC Roots ——>exclude all weak/soft references :该对象到GC Roots节点的最短引用路径,去除所有弱引用；
2)、Merge Shortest Paths to GC Roots——>With all references :从该对象到GC Roots节点最短引用路径，包含所有引用类型
3)、Merge Shortest Paths to GC Roots——>exclude all phantom/weak/soft etc.references :排除软弱引用，查看强引用

结合代码，分析对应界面有哪些泄漏