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原创 芯片测试

作者:Turbo时间限制:1S章节:深度优先搜索问题描述 :　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。输入说明 :　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为...