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原创 3070文件格式--14--标准配置文件

。系统出厂时，标准配置文件默认包含以下内容：标准配置文件的路径如下：电路板测试开发人员在创建电路板配置文件时，可将标准配置文件作为模板。电路板配置文件存放于各电路板对应的子目录中，其内容为标准配置文件的副本或子集。该文件可用于描述某一套系统或某一系统子集内的所有可用资源。系统配置文件与标准配置文件中，语句的语法格式完全相同。每个电路板配置文件中均需包含一条语句。对于多路解复用系统（UnMux systems），唯一有效的配置语句为。表4-3 列出了多路复用系统（Mux systems）出厂默认的

2026-02-03 08:19:04 529

原创 3070文件格式--13--系统配置文件

例如，若系统接入的是 60 赫兹的交流电，则需将 50 赫兹相关的配置行注释。文件中定位一个配置块，该配置块包含系统卡和 ControlXTP1 卡的硬件地址与 IP 地址信息。注：系统配置文件的修改内容，需同步更新至标准配置文件中，具体可参考《标准配置文件》章节。语句中仅需列出系统中已安装的模块。出现上述情况时，需协调该文件中的电源编号，确保与其他现有系统保持一致。模板文件，编辑其内容以匹配系统的实际配置，即可完成损坏文件的修复。若测试头卡的型号或卡的安装位置发生变更，需对系统配置文件进行编辑。

2026-02-01 13:59:20 574

原创 3070文件格式--12--wirelist文件格式详解 2

include语句的核心作用是在当前wirelist文件中引入其他文件的代码，实现代码复用；被引入文件的目标代码会与原文件合并，<file id>需为字符串常量形式的文件标识（路径/名称）；该语句无严格的位置限制，本质是编译器层面的文件内容合并，使用时需确保被引用文件路径正确。subtest用于在测试块内定义子测试，仅适用于模拟、模拟功能、混合功能测试类型；子测试名称为字符串常量且长度≤48字符，每个子测试块必须以结束；子测试块嵌套在test。

2026-01-29 16:28:48 985

原创 3070文件格式--11--wirelist文件格式详解 1

test语句是wirelist测试块的起始标识，未指定测试类型时默认为数字测试；语法支持灵活配置：可仅指定名称，也可组合测试类型、混合选项、版本标签等；混合测试需通过;分隔测试名称与，默认资源类型为数字+模拟。device语句用于定义测试块内的器件块，核心需指定器件标识符和多路复用卡地址（侧别+地址+端口）；多路复用卡地址编号范围为 1-15，端口编号范围为 1-64，侧别仅支持 top/bottom 两种；每个器件块需以end device语句结束，且嵌套在test测试块内。

2026-01-28 23:20:51 676

原创 3070文件格式--10--testorder文件格式详解

testorder文件包含了本电路板所有测试项的清单。每项测试的条目包含测试类型（电阻测试、数字测试、混合信号测试等）、测试名称，以及可选的测试属性（如permanent（永久性）、nulltest（空测试）、power（电源））。testorder文件为自动生成，但你也可以手动创建或编辑该文件。testorder集成程序生成器（IPG）IPG 测试顾问testplan生成器（TPG）模块引脚分配工具（MPA）各类测试（如模拟在线测试、数字测试）将按照其在testorder。

2026-01-25 22:11:29 674

原创 3070文件格式--9--boardxy文件格式详解 3

因为 GROUP 关键词指定了要使用的导线类型，所以只能在该关键词下列出所指定类型的组。board_xy 编译器将判断组中指定的器件引脚之间的距离是否过大，不适合该组的导线类型。关键词 OTHER 标记了一组与器件引脚相关的 X-Y 位置的开始。当与 OTHER 关键词一起使用时，EXTRAS 关键词标志着包含额外器件引脚的 X-Y 位置及其可访问性列表的开始。当与 OTHER 关键词一起使用时，关键词 ALTERNATES 标记了一组包含与器件引脚相关的 X-Y 位置及其可访问性的列表的开始。

2026-01-24 17:38:18 885

原创 3070文件格式--8--boardxy文件格式详解 2

在编译 board_xy 文件时，SCALE 和 UNITS 值将用于将所有单位转换为第十密耳，以生成 board_xy.o 文件。当新文件被存储时，包含文件中的信息将成为新文件的一部分，并且与包含文件的链接会丢失。本节描述了 board_xy 文件的语法。在编译 board_xy 文件时，SCALE 和 UNITS 值将用于将所有单位转换为第十密耳，以生成 board_xy.o 文件。当与 NODE 关键词一起使用时，EXTRAS 关键词声明与该节点相关的额外探针位置，但不与器件引脚相关。

2026-01-22 12:25:50 1018

原创 3070文件格式--7--boardxy文件格式详解 1

本章描述了 board_xy 文件的结构和语法。该文件包含待测电路板的 X-Y 数据，例如器件引脚和探针的位置。i3070 电路测试软件使用 board_xy.o 文件中的 X-Y 数据生成 fixture.o 文件。测试生成过程使用 board_xy.o 文件的节点和位置规格。不描述可选测试功能（如面板测试）的 board_xy 文件语句。请参阅您要使用的测试方法的文档。不要使用 vi 等 shell 编辑器编辑电路板测试文件。这些编辑器不会更新 i3070 程序使用的文件头信息，例如时间戳。

2026-01-18 19:39:03 717

原创 3070文件格式--6--board文件格式详解 6

如果要添加 DISABLING INFORMATION 区块，必须将其放置在board文件的最后一个区块中，在 END 语句之前。禁用信息指定board上零件、引脚或节点在单个测试或一组测试中的调节或禁用。预处理将引脚、节点或零件设置为某个特定状态，并保持在该状态，以最小化其对被测零件的影响。您可以指定禁用或调节board上任意位置的整个零件，以对待测零件进行预处理。您可以指定禁用或调节一个节点或面向节点零件的节点列表。每个节点的预处理信息在零件的测试中定义。每个引脚的预处理信息在零件的测试中定义。

2026-01-17 20:51:32 536

原创 3070文件格式--5--board文件格式详解 5

另一种引脚列表称为悬空引脚（没有连接到任何东西），可以附加在 CONNECTIONS 块的末尾。悬空引脚是编译器发现的未被定义为未连接或已连接的引脚。如果board转换器（例如 translate cad）无法找到引脚的连接定义，该引脚即被定义为悬空引脚。悬空引脚被视为未连接引脚。如果没有引脚名称映射表，且引脚名称无效，编译器会为每个无效引脚名称生成错误。任何未连接的引脚必须在board文件的零件和连接部分之前声明。任何未被定义为连接的引脚或未连接的引脚（悬空引脚）在其节点中显示为空字符串 (“”)。

2026-01-15 09:44:12 527

原创 3070文件格式--4--board文件格式详解 4

这是一个用于尚未通过器件定义定义的零件的临时区域。在编译board文件之前，必须解决未定义的零件。语法UNDEFINED指定在连接语句中引用但尚未由器件定义定义的零件名称。示例UNDEFINEDU11 NT;CR4 NT;

2026-01-14 00:03:26 857

原创 3070文件格式--3--board文件格式详解 3

器件定义提供关于board上零件的信息。每个零件都有自己的定义。相同类型的组件按零件类型的关键词进行分组。每个器件定义包含的信息包括该组件的名称或标识、其值、公差或高低值（如适用）以及其他各种测量参数。器件定义中还可能有部件号和信息零件。信息是故障信息，如果零件故障，会在报告零件上报告。在器件定义关键词下的每个组件零件必须以分号 (😉 结束。引用标识符上的引号 (") 是可选的。参考设计符号用于标识零件或零件引脚。

2026-01-11 09:58:37 946

原创 3070文件格式--2--board文件格式详解 2

在 Mux 系统中，如果您的board配置文件中同时包含这两种卡，那么您可以指定一个卡的优先级用于分配 GP 继电器。请注意，如果从 Mux 系统迁移的测试夹具实际上使用了 AccessPlus 卡，则在没有显著更改布线的情况下，将无法在 UnMux 系统上运行。电源点选项可以包含两个部分：一个是电源节点的列表，另一个是电源点的列表。电平选项针对全局测试，也就是说，如果在测试里面没有另外定义引脚用到的Family，那么用的就是Board文件中定义的Family属性。以下是在 BCF 中使用的全局选项；

2026-01-07 20:16:34 776

原创 3070文件格式--1--board文件格式详解 1

本章描述了board文件中board配置格式（BCF）语法的结构。board文件包含待测board上器件的描述、它们的互连关系以及测试和夹具选项。本章未描述一些可选的board文件语句。这些语句在使用诸如 Keysight PanelTest 的测试选项时可用。关于这些语句的信息，请参阅测试选项的文档。您不应使用 vi 等 shell 编辑器编辑board测试文件。这些编辑器不会更新 i3070 程序使用的文件头信息，例如时间戳。相反，应该使用 BT-Basic 编辑器来编辑board测试文件。

2026-01-07 00:46:31 734

原创 ICT测试日志 --5--日志记录的格式下

该记录包含设备列表，这些设备在相应测试中被指认为潜在故障或已知故障，并在日志级别设置为指控（或更高级别）时生成。例如，与特定测试相关的@RPT记录可能出现在与不同测试相关的@BLOCK记录中。该记录由语句记录，该语句可选择性记录组件的标称值及其高低限值。当引脚日志记录生效时，其后紧跟一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，其后跟随一个包含附加信息的子记录。该记录包含测试语句的结果。其后跟随一个或多个子记录，这些子记录包含一个引脚列表。子记录：在记录引脚以列出故障设备引脚时生成 @DPIN。

2025-12-26 22:03:36 681

原创 ICT测试日志 --4--日志记录的格式中

格式：{@BATCH|被测单元类型|被测单元类型修订|夹具ID|测试头编号|测试头类型|测试步骤|批次ID|操作员ID|控制器|测试计划ID|测试计划修订|父面板类型|父面板类型修订}格式：{@BTEST|电路板ID|测试状态|开始日期时间|持续时间|多重测试|日志等级|日志集|学习|已知良好|结束日期时间|状态限定符|电路板编号|父面板ID}格式：{@ALM|报警类型|报警状态|检测时间|电路板类型|电路板版本|报警限值|检测值|控制器|测试头编号}它用于识别在@ALM记录中描述的引发实时报警的电路板。

2025-12-25 22:36:16 956

原创 ICT测试日志 --3--日志记录的格式上

当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。当记录限值时，紧跟其后的是一个包含附加信息的子记录。子记录：在记录限值信息时生成@LIM3。

2025-12-24 07:37:34 768

原创 ICT测试日志 --2--解释日志记录

log” 和 “log using” 语句分别允许您以自由字段和图像格式创建用户定义的日志记录。用户定义的日志记录可以模拟现有日志记录，也可以从头开始创建以用于自定义应用（这需要自定义例程来处理非标准日志记录）。

2025-12-23 20:05:51 849

原创 ICT测试日志 --1--数据结构

测试数据以一系列格式化的记录形式存储在文件中，这些记录称为日志记录。每个记录由一个表示信息的字符串组成。由于记录需要由程序读取和解释，因此每个记录中的字符按照精确的格式排列。如果您希望解释现有的日志记录或从头生成自己的日志记录，则必须熟悉这些格式。由于日志记录只是ASCII字符的字符串，您可以将日志记录文件加载到BT-Basic工作区中进行检查。或者，如果您熟悉shell，也可以使用more命令或编辑器（如vi）来检查日志记录。有关日志文件的位置，请参见数据记录文件的结构。

2025-12-22 18:48:40 959

原创高级边界扫描 --10-- 开发自定义测试

在初始测试开发期间（推荐）测试开发后：常规测试测试开发后：具有特殊资源需求的测试本章介绍了如何在非多路复用系统上根据您的测试需求开发自定义的边界扫描测试。

2025-11-29 17:54:22 775

原创高级边界扫描 --9-- 边界扫描工具

边界扫描链中每个设备的边界寄存器连接在一起，而这个边界寄存器链中的数据模式称为帧。当帧单元中的数据与帧的预期数据不同时，称该帧单元在该帧上失败，帧被称为故障帧。预测/实际列中的每个单元代表一个不同的帧。使用显示菜单中的“失败时驱动的设备”和“失败时接收的设备”选项查找怀疑导致故障的设备。链查看器展示了InterconnectPlus软件如何查看电路板上的边界扫描链，还展示了链中设备的边界扫描连接信息。汇总 - 窗口底部的汇总区域显示您正在调试的测试名称��帧单元总数、通过的帧单元数和未通过的帧单元数。

2025-11-28 21:12:27 710

原创高级边界扫描 --8-- 使用TAP控制器状态图

在提示捕获数据时，软件会自动跳过BYPASS状态的设备（因为它知道BYPASS捕获什么），并停在第一个分配了除BYPASS以外指令的设备上。在提示捕获数据时，软件会自动跳过BYPASS状态的设备（因为它知道BYPASS捕获什么），并停在第一个分配了除BYPASS以外指令的设备上。您可以使用mspd.log文件开发您的边界扫描测试。因为链中每个设备总是处于相同的状态，因此从一个状态移动到另一个状态所需的矢量不必为链中的每个设备生成。每当您调用链列表表单时，即使您决定取消表单，也会为链中的每个设备写入矢量。

2025-11-22 22:28:16 678

原创高级边界扫描 --7-- 多芯片扫描端口

当您使用边界扫描软件为您的边界扫描设备链开发自定义测试时，您将使用多芯片扫描端口驱动器（MSPD）软件。MSPD使用的大多数功能与SPD软件相同。因此，本章仅讨论这两款软件之间的差异以及MSPD在链测试中的具体应用。这是与InterconnectPlus软件一起使用的接口，InterconnectPlus是i3070在线测试系统的可选高级边界扫描产品。

2025-11-16 23:57:48 969

原创高级边界扫描 --6-- Silicon Nail测试调试

这些文件是u5.itl（ITL文件）和u5.vtf（VCL文件）。常规的备份方案允许所有文件的多个副本，包括itl和vcl中间文件。如果将额外的节点添加到ITL和VCL文件中，应修改夹具文件，以确保不会使用或将来使用添加节点时出现的任何资源冲突。如果以类似于数字源文件的方式修改ITL文件，您将得到一个对测试该设备毫无用处的Silicon Nail测试。如文件所示，节点U3-6是无法访问的。示例6-6和示例6-7展示了文件被分离后（shell命令）文件的样子。示例6-5展示了为该设备生成的ITL文件的样子。

2025-11-16 17:43:31 976

原创高级边界扫描 --5-- Silicon Nail集群测试

从概念上看，似乎两个特殊类别应该相似，即Silicon Nail应像当前的边界扫描InterconnectPlus模型（图6-8和图6-10）那样运行，或者边界扫描Interconnect应像当前的Silicon Nail模型（图6-7和图6-9）那样运行。Silicon Nail的特殊文档将短语“其连接设备的边界扫描测试”更改为“连接设备的Silicon Nail测试”。请记住，您必须包含所有的禁用和节点信息。您的Silicon Nail测试的资源将与其他测试一样分配，测试将被添加到最终的测试计划中。

2025-11-14 18:30:06 469

原创高级边界扫描 --4-- 使用Silicon Nail测试

您的Silicon Nail测试的资源将与其他测试一样被分配，并且测试将被添加到最终的测试计划中。在Silicon Nail测试中生成的 pcf 值的顺序是基于用于生成测试的库源代码中 assign 语句的顺序。当生成Silicon Nail测试时，MSPD会编写测试，以便Silicon Nail节点（硅节点）的测试与分配有物理探针的节点（探针节点）的测试协调进行。在重新排序的代码中，pcf 语句中的值与两个源中的值相同。在示例6-3中的库源代码中，pcf 顺序与库文件中的 assign 语句的顺序相同。

2025-11-14 17:20:17 940

原创高级边界扫描 --3-- 什么是Silicon Nail测试

Silicon Nail测试使用边界寄存器单元来替代物理探针或节点。Silicon Nail是指使用边界寄存器单元来替代节点上的物理探针。边界寄存器单元充当驱动器和接收器，如图6-1所示。边界扫描设备之间的设备通常是一个非边界扫描部分或一个小型集群。如果存在物理探针，则Silicon Nail测试将不允许您使用Silicon Nail来替代该探针。Silicon Nail会为具有库的数字设备自动生成测试，但您也可以选择手动编写Silicon Nail测试以适应其他情况。手动调整在线测试库。

2025-11-13 10:57:39 1522

原创高级边界扫描 --2-- 测试与调试

在图5-5的示例中，注意只能接触到六个点：GND和VCC节点，以及两个表面贴装电容器的两个端子。这导致许多良好的IC也被进行了修理，增加了成本。如果从VCC或Ground测量电阻时显示一个不稳定且不断增加的电阻读数，则可能是节点短路到对面的GND或VCC节点，导致GND/VCC的旁路充电，而接触的节点（VCC或GND）没有短路。在执行1149.6测试时，1149.6芯片中有一个预加载了称为迟滞签名的唯一签名的存储器。在调试过程中，如果遇到迟滞存储器匹配，结果将会在边界扫描调试窗口中突出显示（图5-4）。

2025-11-13 07:58:05 1008

原创高级边界扫描 --1-- IEEE标准1149.6

IEEE标准1149.6IEEE Std 1149.6定义了对IEEE Std 1149.1的扩展，以标准化边界扫描的结构和方法，确保对高级数字网络进行简单、稳健且最小侵入的边界扫描测试。现有标准无法充分解决此类网络，特别是对于交流耦合、差分或者两者兼具的网络。这项标准允许测试与IEEE Std 1149.1对传统数字网络的测试以及IEEE Std 1149.4对传统模拟网络的测试并行运行。本标准还规定了对IEEE Std 1149.1的软件和边界扫描描述语言（BSDL）的扩展，以支持新的I/O测试结构。

2025-11-12 16:11:40 794

原创边界扫描测试原理 17 -- BSDL 11 BSDL 快速参考下

BSDL还允许用户指定的包用于解决超出IEEE标准建立的设计应用，但仍符合标准的规则。引脚ID包括一个后续程序描述中引用的标识符、一个标识引脚使用方式的模式分配，以及一个显示引脚用于单个信号或信号组的类型分配。在这些从属语句中找到的名称必须与逻辑端口语句分配的名称匹配。该参数识别端口名称映射到的设备的物理引脚。在实体中，常量语句描述设备的逻辑端口名称和物理引脚之间的映射。end语句的标识符必须与它所终止的语句的标识符匹配。取决于语句在实体、包或包体中的位置，该语句有三种不同的使用方式。

2025-11-04 08:33:34 744

原创边界扫描测试原理 16 -- BSDL 10 BSDL 快速参考上

除了EXTEST和BYPASS这两个操作码名称外，操作码名称的位模式由设备设计者指定，这两个操作码名称的模式由IEEE标准1149.1强制要求。它是自由格式的，这意味着它不遵循列式组织，额外的空格用于增强可读性，不会改变语句的意义。禁用规格提供了控制单元的编号、控制单元（ccell）必须具有的值以禁用输出驱动程序，以及被禁用的驱动程序将进入的状态（结果），可以是高阻态（Z）、弱1或弱0。使用1149.1定义的测试设施进行测试时，必须确保在测试受影响的IC的TAP之前，首先设置任何合规启用条件。

2025-11-04 08:32:20 935

原创边界扫描测试原理 15 -- BSDL 9 应用示例

单元1是一个两态输出数据单元。单元15是一个额外的仅观察（OBSERVE_ONLY）单元，与组件的输入引脚6相关联。单元2是一个可逆单元，既可以作为输入（如果控制单元关闭了输出驱动器，这意味着单元3产生0）或作为驱动器的数据源（如果输出启用）。单元17是一个额外的仅观察（OBSERVE_ONLY）单元，与组件的输入引脚5相关联。单元6、9和12是观察来自系统逻辑的信号的单元，与I/O引脚无关，被描述为INTERNAL单元。单元2是一个额外的仅观察（OBSERVE_ONLY）单元，与组件的双向引脚9相关联。

2025-11-02 22:43:15 799

原创边界扫描测试原理 14 -- BSDL 8 用户提供的 VHDL 包

对于INTERNAL的<单元上下文>，<捕获描述符>值PI本质上与X相同，因为内部单元不捕获除常数0（ZERO）、1（ONE）或先前移入的值（CAP、UPD或PO）以外的任何内容。<用户包体>中的<单元描述常量>的<单元名称>值必须与<用户包>中的<延迟常量>的<单元名称>值匹配，其中<用户包体>和<用户包>指定相同的<用户包名称>。在单个<捕获描述符列表>中，没有<单元上下文>值和<捕获指令>值的组合出现超过一次。<用户包>中的<用户包名称>的值必须与<用户包体>中的<用户包名称>的值相匹配。

2025-11-01 16:20:23 881

原创边界扫描测试原理 13 -- BSDL 7 标准 VHDL 包 STD_1149_1_2001

组件设计者可能知道一些情况，在这些情况下，组件的系统使用可能被边界扫描功能破坏并导致电路问题。作为一个简单的例子，一个组件可能具有动态系统逻辑，需要时钟驱动来保持其状态。因此，在将组件从系统模式切换到INTEST测试模式时，必须保持时钟驱动。可以为DESIGN_WARNING属性分配一个字符串消息，以提醒未来的用户潜在的问题。以下是标准 VHDL 包 STD_1149_1_2001 的完整内容。这个警告仅用于特定应用的显示目的。它是一个没有特定语法的任意长度的文本消息，不用于软件分析。

2025-11-01 07:22:50 146

原创边界扫描测试原理 12 -- BSDL 6 INTEST 描述

出现在<扩展定义>中<扩展名称>元素值中的任何<VHDL标识符>必须作为<扩展名称>元素的值出现在早于给定<扩展定义>的BSDL描述或给定VHDL包中的<扩展声明>中。如果<扩展声明>出现在VHDL包中，则BSDL描述中相应<扩展定义>的出现必须被视为在给定<扩展声明>之后出现。<扩展定义>必须出现在相应的<扩展声明>之后。当选择 INTEST 指令时，如何将测试模式应用于组件（组件时钟脉冲的来源以及测试逻辑必须保持在 Run-Test/Idle 控制器状态的时间，以允许执行每个应用的测试）。

2025-10-31 21:55:43 827

原创边界扫描测试原理 11 -- BSDL 5 RUNBIST描述

此持续时间可以用绝对时间表示（例如，由内部生成的时钟驱动的设备），或者更常见的是用TCK和/或系统时钟的时钟周期数表示。元素的值中的位数必须等于<寄存器访问描述>的<寄存器关联>元素中<寄存器>元素的<整数>值中显式定义的位数，其中RUNBIST是<指令名称>元素的值。在示例2-32中，设备需要在Run-Test/Idle控制器状态中等待足够长的时间以应用23000个TCK的时钟周期。在<边界寄存器语句>的<单元规格>中出现为<端口ID>的值，其中<功能>元素的值为CLOCK。

2025-10-30 21:43:06 887

原创边界扫描测试原理 10 -- BSDL 4 边界扫描寄存器描述

出现在<单元规格>中的任何<端口ID>的<端口名称>必须出现在<逻辑端口描述>中；并且，如果<单元规格>中的给定<端口ID>是一个<带下标的端口名称>，它的<下标>必须在<逻辑端口描述>中<引脚规格>元素中的<范围>元素的范围之内，在该<带下标的端口名称>的<VHDL标识符>作为<端口名称>元素的一个值出现。<单元规格>中任何不是<带下标的端口名称>的<端口ID>元素的值必须是在<逻辑端口描述>中<引脚规格>的<标识符列表>元素中的<端口名称>，使得<引脚规格>中的<端口尺寸>元素的值为bit。

2025-10-29 10:55:03 1103

原创边界扫描测试原理 9 -- BSDL 3 指令寄存器描述

也就是说，如果存在两个<操作码描述>元素和两个<模式>元素，其中一个在这两个<操作码描述>元素中的每一个中出现，则这两个<模式>元素必须在某个字符位置上有所不同，并且在该位置上两者都不包含字符X。SAMPLE和PRELOAD的操作码必须被定义，每个的<操作码描述>中必须分别使用SAMPLE和PRELOAD作为<指令名称>元素的值。寄存器需要支持某些指令。所有其名称作为<寄存器字符串>中任何<指令捕获>元素的<指令名称>元素值的指令，必须作为<指令名称>元素出现在<指令操作码语句>中的<操作码描述>元素中。

2025-10-29 06:54:57 1097

原创边界扫描测试原理 8 -- BSDL 2 声明

<标准使用声明>标识了一个标准VHDL包，其中定义了将在本指南其他地方引用的属性、类型、常量和其他元素。标准使用声明的形式如下：示例 2-7标准使用声明语法<标准VHDL包标识符>是包含要包括的信息的标准VHDL包的名称。后缀.all表示VHDL包中的所有声明都将被使用。在处理BSDL描述的i3070测试系统中，标准VHDL包可能是文件系统中某个地方的一个文件。.all后缀对VHDL有意义，并不是文件名的一部分。虽然VHDL允许使用更广泛范围的后缀，但在BSDL中.all是唯一允许的后缀。标准VHDL包的

2025-10-28 09:31:02 984

原创边界扫描测试原理 7 -- BSDL 1 概述

本章描述了如何使用IEEE标准1149.1-2001 BSDL。本章中的信息来源于或转载自IEEE Std. 1149.1-2001，IEEE标准测试接入端口与边界扫描架构，版权©2001归属电气电子工程师学会（IEEE）。IEEE不承担对本出版物中的内容和使用所导致的任何责任。信息转载经IEEE许可。IEEE 1149.1和BSDL的历史1149.1标准最初由IEEE于1990年发布。从那时起，一个行业临时小组开始开发BSDL的一个版本，后来由IEEE接手进行最终开发。该标准本身经历了若干次修订。

2025-10-28 09:29:45 992

JTAG可测试性设计指南

WeDo2,MAKER

zadig version:2.9

空空如也