待测设计（DUT）和参考模型（ReferenceModel）同时出错

问题描述：

我们在验证环境顶层集成参考模型后，通过给DUT和RM发送同样一组激励，即两者的输入相同，然后拿DUT和RM的输出结果，在scoreboard中进行比对，若比对结果一致，测试通过。

这个参考模型可能是SV语言写的（可能是验证人员写的），也可能是C语言写的，即Cmodel（可能不是验证人员写的），再通过DPI-C接口连入到验证环境中。

当DUT和RM同时出错，而且错的一致，即scoreboard中比对是通过的，该如何发现DUT的漏洞？

问题分析：