MOSFET数据手册你会看了吗？

是qiqi呀~

已于 2024-05-10 11:39:31 修改

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分类专栏：嵌入式硬件文章标签：嵌入式硬件单片机物联网 stm32

于 2024-05-10 11:37:53 首次发布

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一、功率损耗Power dissipation

编辑二、结温Junction temperature

三、热阻Thermal resistance

四、寄生电容Cisis/Coss/Crss

五、开关时间 Time

一、功率损耗Power dissipation

功率损耗主要分为两类：静态损耗和动态损耗。静态损耗主要由器件的导通电阻决定，当MOSFET导通时，电流通过内部电阻产生热量，这部分损耗与器件的导通时间和电流的平方成正比。动态损耗则与器件的开关频率有关，需要考虑导通电阻、开关电容以及开关时间等参数，针对这份数据手册来说，该MOS在环境温度为25℃的条件下，消耗功率尽量不超过1.4W，否则可能会损坏MOS。

二、结温Junction temperature

结温是指在电子设备中，实际半导体芯片（晶圆、裸片）的最高工作温度。这个温度通常高于器件的外壳温度和表面温度，针对这份数据手册来说，NMOS最高结温不能超过150℃。

三、热阻Thermal resistance

热阻描述了物质的热传导特性，该参数直接影响器件的散热效率和稳定性。热阻越小，意味着器件的散热能力越强。针对这份数据手册来说，NMOS结面相对于环境温度的热阻是100℃/W，相当于器件消耗的功率为1W时，器件温升为100℃。

四、寄生电容Cisis/Coss/Crss

寄生电容是一个重要的参数，它直接影响着器件的开关速度和效率。MOSFET的三个主要寄生电容分别是Ciss、Coss和Crss。Ciss是指场效应晶体管的输入电容，也称为输入总电容，是栅极-源极间电容（Cgs）与栅极－漏极间电容（Cgd）的总和。它决定了MOSFET开启时所需的电荷量，从而影响驱动能力和开关损耗。Coss是指场效应晶体管的输出电容，也称为输出总电容，是漏极－源极间电容（Cds）与栅极-漏极间电容（Cgs）的总和。这个参数在MOSFET关闭时尤为重要，因为即使栅极已经关闭，Coss仍然会导致一定的电流流动，直到器件完全关闭。Crss是指场效应晶体管的反向传输电容，也称为反向传输总电容，是栅极－漏极间电容（Cgd）。它影响漏极电流的上升和下降速度，从而影响开关的响应时间。

五、开关时间 Time

Turn-on delay time是指Ugs从接近0增大到阈值电压前这段时间，此时MOS管处于关断状态。Rise time是指当Ugs上升到阈值电压后直至稳定，MOS管处于开启状态这段时间。Turn-off delay time是指Ugs开始下降且没有到达阈值电压的这段时间。Fall time是指Ugs从阈值电压下降至接近0的这段时间。