本文详细介绍了如何使用Multisim的IV分析仪测量二极管、晶体管的伏安特性曲线，探讨了直流电流变化对二极管管压降和交流等效电阻的影响，揭示了二极管在不同电流下的工作特性。
1.半导体器件特性曲线测试方法的研究
一、题目
利用IV分析仪测量二极管的伏安特性
二、测量方法及步骤
1.选择元件:在Multisim 主界面的左侧元器件栏中选择某种型号的二极管( Diode),如1N4148,并将某拖至电路图窗口。
2.选择仪器:在右侧仪器仪表栏中选择IV分析仪(IV - Analysis) ，也将其拖至电路图窗口;打开IV分析仪,在仪器的Conponents栏选择Diode,IV分析仪的右下角将显示出二极管管脚所接端子。
3.完成测试:单击SimParam，设置仪器参数;闭合仿真开关，即可得到伏安特性曲线。移动光标，可以读出管压降及其对应的电流值
实验如图所示
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