【学术会议征稿】第四届检测技术与智能系统国际学术会议（DTIS 2024）

第四届检测技术与智能系统国际学术会议（DTIS 2024） 

The 4th International Conference on Detection Technology and Intelligence System

 第四届检测技术与智能系统国际学术会议（DTIS 2024）将于2024年12月13-15日在中国长沙举行。DTIS 2024会议旨在为从事检测技术与智能系统领域的专家学者、工程技术人员、技术研发人员提供一个共享科研成果和前沿技术，了解学术发展趋势，拓宽研究思路，加强学术研究和探讨，促进学术成果产业化合作的平台。大会诚邀国内外高校、科研机构专家、学者，企业界人士及其他相关人员参会交流。

重要信息

会议官网：

The 4th International Conference on Detection Technology and Intelligence System

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大会时间：2024年12月13-15日

大会地点：中国-长沙

接受/拒稿通知：投稿后7个工作日

收录检索：EI, Scopus

 

 

征稿主题

检测技术	智能系统	自动测控系统
微机测控装置与系统	机器人传感和数据融合	智能化测控技术
传感技术与应用	系统建模和识别	非接触测量
机电信号检测与处理	智能在线无损检测系统及应用	仪表智能化技术
自动检测与转换技术	智能故障检测与诊断	现代控制技术
检测技术与自动化装置的研究与应用	人工智能驱动的技术应用	测控系统与诊断技术
自动检测系统的控制,运行与维护	计算机控制
电路基础	智能机器人
电子技术	事件与数据驱动控制
机械设计	飞行器导航、制导与控制
金属材料与热处理	嵌入式系统与无线传感网络
工业分析技术	工业计算机集散控制系统
无损探伤	人工智能方法和系统
测量仪器与仪表	人机交互技术
传感器与自动检测	计算机视觉
微机原理与接口 技术	自然语言处理
计量技术	控制原理
	数据分析与大数据挖掘