【学术会议召开通知】第四届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2025)

第四届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议

2025 4th International Conference on Machine Vision, Automatic Identification and Detection 

 第四届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2025)定于2025年5月23至25日在武汉隆重举行。MVAID 2025将围绕“机器视觉”与"自动识别与检测”等相关最新研究领域，为来自国内外高等院校、科学研究所、企事业单位的专家、教授、学者、工程师等提供一个分享专业经验，扩大专业网络，面对面交流新思想以及展示研究成果的国际平台，探讨本领域发展所面临的关键性挑战问题和研究方向，以期推动该领域理论、技术在高校和企业的发展和应用，欢迎各位领域内专家学者投稿参会！

重要信息

大会官网：

2025 4th International Conference on Machine Vision, Automatic Identification and Detection https://ais.cn/u/FrUJze

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大会时间：2025年05月23-25日     

大会地点：中国-武汉

提交检索：EI Compendex、Scopus

组织单位

主办单位

                

支持单位

组织组委会

 征稿主题  

机器视觉	自动识别与检测技术
光学成像 ·图像采集 ·光源系统 ·数字图像处理 ·传感器 ·主动视觉 · 3D -视觉 ·人工智能 ·图像处理 ·图像处理方法 ·计算成像 ·机器视觉系统及组件 ·医学影像智能分析 ·医学人工智能与机器学习 ·医疗大数据与健康信息学 ·智能医疗设备与数字疗法 ·新兴技术与未来医疗 ·信号处理 ......	·自动识别中的人工智能技术 ·生物识别(包括人脸识别) ·文档处理与识别 ·网络安全 ·先进的学习方法 ·线性模型和降维 ·自然语言处理与识别 ·人脸和手势识别 ·模式识别 ·图像取证与识别 ·微机测控装置及系统 ·传感器技术及应用 ·自动检测与转换技术 ·目标识别 ·检测技术与自动化装置的研究与应用 ·自动检测系统的控制、运行和维护 · 材料表面缺陷的视觉检测技术 · 智能材料与机器视觉的集成 · 复合材料与多模态视觉融合 · 智能装备与自动化检测系统 ......

论文出版

会议投稿

所有的投稿经过严格的审稿之后，最终所录用的论文将由SPIE - The International Society for Optical Engineering (ISSN: 0277-786X)出版，出版后将提交至EI Compendex和Scopus检索 。（目前EI检索稳定，往届均已检索，最快会后3个月检索！）

>>投稿须知：

1. 论文要求全英文；

2. 文章原创未正式发表过，符合重复率要求；

3. 因个人原因撤稿，将被扣取一定的手续费用，已提交出版的文章则不得撤稿；

会议采用在线方式进行投稿，投稿请扫描下方二维码。

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参会方式

1. 口头报告：现场演讲10分钟左右（演讲PPT自行设计）；

2. 海报展示：报名时，需提供一份A1竖版尺寸的彩色电子版的海报；

3. 听众参会：仅参会听会，无任何展示，会议上可提问交流；

会议采用在线方式进行参会报名，参会请扫描下方二维码。

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