使用基路径测试方法设计测试用例

00 int Sort ( int  iRecordNum, int iType)

01 { 

02    int x=0;

03    int y=0;

04    while ( iRecordNum == 0 )

05    {

06       if( iType==0 )

07          x=y+2;

08     else

09         if ( iType==1 )

10            x=y+10;

11       else

12            x=y+20;

13    }

14    return x; }

 步骤一：画控制流图

 步骤二：根据控制流图计算圈复杂度V(G)=11（条边）-9（个节点）+2=4

 

因此，该函数的圈复杂度是4。更重要的是，V(G)的值提供了组成基本集的基路径的上界，并由此得出覆盖所有程序语句所需的测试设计数量的上界。

步骤三：根据圈复杂度计算基路径。

基路径确定方法

首先选择一个基线路径，应该对应某个正常案例程序执行（建议选择有尽可能多的判断节点的路径） 然后重新回溯基线路径，依次“翻转”每个判断点，即当节点的外度≥2时，必须取不同的边。

注：遇到存在循环的题目不必执着于“无穷的翻转”

Test path1：2→4→14

在4处反转得到↓

Test path2：2→4→6→7→13→4→14

在6处反转得到↓

Test path3：2→4→6→9→10→13→4→14

在9处反转得到↓

Test path4：2→4→6→9→12→13→4→14

步骤三：根据基路径设计测试用例。

	输入数据	预期输出
测试用例1	iRecordNum = 1 iType = 0	x = 0 y = 0
测试用例2	iRecordNum = 0 iType = 0	x = 2 y = 0
测试用例3	iRecordNum = 0 iType = 1	x = 10 y = 0
测试用例4	iRecordNum = 0 iType = 2	x = 20 y = 0