IC-ATE STDF知一二

ATE测试机执行测试用例后datalog可以生成不同文件类型

STDF（Standard Test Data Format）是一种行业标准，用于定义在ATE上生成的测试数据的格式和结构。

下一代标准ritdb：

wafer test STDF文件都存储了什么

part1/文件头信息：

具体内容

FAR：global information for the entire file/文件全局信息

包含2个部分

CPU_TYPE：unsigned integer第1个字节 /2 
STDF_VER：unsigned integer第2个字节 /4 V3还是V4

ATR：Audit Trail Record/文件更改记录
MOD_TIM:文件修改时间 U4个字节 IPC系统时间+默认时区
CMD_LINE：程序执行命令 C*n 可变长度ascii字符串 XXX什么时候在是什么版本软件做什么事儿了。
For example: stdfformatter tester+device config; Time zone: +0200; Ver: SmarTest s/w rev. 8.4.4.0

VUR：Version Update Record /记录stdf的版本更新记录

MIR：global information for the entire lot/批次全局信息
PMP：pin结果记录
PSP？
GDR：超过255个工位记录信息
SDR：工位信息记录
WCR：wafer diemensions and orientation/晶圆尺寸和方向
 

part2-X/每一个wafer测试结果信息：
WIR：information on first wafer/第一个晶圆信息
PIR：
PTR/FTR/MPR/STR
WRR:Wafer Result Record/晶圆结果信息

partEnd/final resutls for entire lot/整个批次最终测试结果

TSR：
HBR：硬bin结果信息
SBR：软bin结果信息
PCR：
MRR：global summary results for the entire lot/基于批次的统计信息。

文件头+过程数据+结果数据/统计信息：

这些数据并不是全部客户需要的

stdf存什么

1、找客户要记录集合比如TSR等这种简写，头有哪些，中间部分有哪些，结束信息有哪些

2、如何获取字段的值无非来源于IPC os信息，IDE测试配置模型信息，运行过程中testres evt，opt evt，deviceevt，以及统计信息。

3、datalog部分收到后如何设置：

头/中/尾部----记录名---每一个字段设置，注意字段的数据类型

4、从测试流程执行一步一步串行写下去。

参考：
http://www.kanwoda.com/wp-content/uploads/2015/05/std-spec.pdf

final test stdf文件存储内容都有什么