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原创 ADDAC满足相干采样防止频谱泄露的测试原理

ADDAC测试：如果芯片同时存在ADC和DAC两种，首先AD部分的测试与上述ADC测试的原理一致，对于DA部分也和上述DAC测试原理一致，这里不同的是需要看一下ADC输入的波形Fin与DAC输出波形的Fout是否一致，或者频偏是否很小，如果很小则也是正常的现象，如果过小则可能是芯片本身有问题，可以检查寄存器的配置是否符合要求。在芯片测试中，ADDAC想要满足相干采样，而不会出现频谱泄露的情况设置合理的参数Fin，Fs, M ,N 是非常必要的。动态参数包括：SNR，THD，ENOB等。