MTK平台s5k3l6 PDAF线性度测试fail排查方法

xx项目二供后摄s5k3l6, tuning在precheck PDAF线性度时测试fail,经咨询MTK,排查方法总结如下:

  1. 按照PDAF_Porting_Debug_SOP文档检查确保confidence值≥60以及log都正常
  2. S5k3l6对菱形图表现不太好,建议使用非等间距条形图来测试线性度
  3. 测试前先打开camera预热3分钟
  4. 使用光源稳定,且环境ISO小于300,ISO值可以在PDAF的log中看到
  5. 测试chart不要因为光源导致局部过曝, chart必须正对镜头,不要倾斜
  6. 计算PD线性度时提取的PD value数据最好是confidence值大于60的情况
  7. 多测试几颗模组来计算线性度,保证RSQ 不存在Fail 项
  8. 检查sensor驱动中i4PosR 和i4PosL 坐标值是否填反了,坐标值填反会导致曲线呈反向的
  9. 请FAE检查PDAF所使用size下的PD offset值是否正确
  10. 调整confidence index,将gradient threshold改小,即lens parameter 文件中的i4ConfIdx参数
  11. 可以适当调大些 pd focus size,即lens parameter 文件中的i4FocusPDSize参数
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MTK平台EMCP老化自动测试程序是一种用于测试EMCP(Embedded Multi-Chip Package)芯片老化性能的自动化程序。 EMCP是一种集成Flash存储器和LPDDR存储器的封装,广泛应用于移动设备中。在长时间使用中,由于环境温度、使用频率等因素的影响,EMCP芯片可能会出现老化问题,导致性能下降甚至损坏。为了确保产品的可靠性和性能稳定,需要进行老化测试MTK平台EMCP老化自动测试程序能够自动化执行一系列老化测试步骤。首先,通过设置不同的温度和频率条件,模拟不同的使用环境,对EMCP芯片进行长时间运行。在运行过程中,程序会监测芯片的工作状态和性能表现,记录下关键数据。 测试过程中,程序还会执行一些特殊的操作,如数据读写、擦除和校验等,来验证芯片的正确性和可靠性。通过不断变化的测试条件和操作,可以全面评估EMCP芯片在各种使用场景下的老化性能和可靠性。 最后,测试程序会生成一份详细的测试报告,包括每个测试步骤的结果和关键数据的记录。这些数据可以帮助芯片制造商和设备制造商评估芯片的质量和稳定性,并做出相应的调整和改进。 总结来说,MTK平台EMCP老化自动测试程序是一种针对EMCP芯片老化性能的全面测试工具,能够自动化执行一系列测试步骤,模拟真实使用环境,评估芯片的性能和可靠性,为芯片制造商和设备制造商提供可靠的数据和参考,确保产品的质量和可靠性。

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