安捷伦Agilent E4991A射频阻抗分析仪

描述

E4991A射频阻抗/材料分析仪提供终极阻抗测量性能和强大的内置分析功能。它将为评估3 GHz范围内元件的R&D元件和电路设计人员提供创新。E4991A使用RF-IV技术，而不是反射测量技术，在较宽的阻抗范围内进行更精确的阻抗测量。基本阻抗精度为+/-0.8%。高Q精度支持低损耗元件分析。内部频率合成器以1 mHz的分辨率扫描1 MHz至3 GHz的频率。

材料评估

E4991A在较宽的频率范围(1 MHz至1 GHz)内提供全面的电介质/磁性材料测量解决方案。

晶片上测量

E4991A-010探针台连接套件使我们能够轻松地将Agilent E4991A连接到Cascade Microtech的RF探针系统，以进行片上阻抗测量。

温度特性评估

温度特性测试套件E4991A-007是一种用于测量元件和材料温度特性的新解决方案。该选项在-55°C至+150°C的宽温度范围内提供高度精确的温度特性分析能力，并具有强大的温度漂移补偿功能。

基本准确性

• +/- 0.8 %基本精度

扫描参数

• 频率:1兆赫至3千兆赫
• 振荡器电平:最高1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
• DC偏置电平(选项E4991A-001): +/- 40V或+/- 50 mA

更多功能

• Windows风格的用户界面
• 内置VBA编程功能
• 通过局域网接口传输数据

多功能测量选项

• 电介质/磁性材料测量(选项E4991A-002)
• 可靠的片上测量(选项E4991A-010)
• 温度特性测量(选项E4991A-007)