安捷伦Agilent E4991A射频阻抗分析仪

基本精度

• 基本精度 +/-0.8%

扫描参数

更多特性

多功能测量选件

E4991A 提供完整的介电/磁性材料测量解决方案，涵盖 1 MHz 至 1 GHz的宽频率范围。

晶圆测量

借助E4991A-010 探针台连接套件，您可轻松地地将 Keysight E4991A 连接到射频探头系统（由 Cascade Microtech 提供）上进行晶圆测量。

温度特性评估

温度特性测试套件 E4991A-007 是一款为元器件和材料进行温度特性测量的新型解决方案。该选件可在 - 55°C 至 + 150°C 广泛的温度范围内提供高精度的温度特性分析功能，以及强大的温度漂移补偿功能。

E4991A 射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，E4991A 使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1 mHz的分辨率。

材料评估

• 频率：1 MHz 至 3 GHz

• 振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms

• DC 偏置电平（选件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA

• 描述

• E4991A射频阻抗/材料分析仪提供终极阻抗测量性能和强大的内置分析功能。它将为评估3 GHz范围内元件的R&D元件和电路设计人员提供创新。E4991A使用RF-IV技术，而不是反射测量技术，在较宽的阻抗范围内进行更精确的阻抗测量。基本阻抗精度为+/-0.8%。高Q精度支持低损耗元件分析。内部频率合成器以1 mHz的分辨率扫描1 MHz至3 GHz的频率。
  
  材料评估
  
  E4991A在较宽的频率范围(1 MHz至1 GHz)内提供全面的电介质/磁性材料测量解决方案。
  
  晶片上测量
  
  E4991A-010探针台连接套件使我们能够轻松地将Agilent E4991A连接到Cascade Microtech的RF探针系统，以进行片上阻抗测量。
  
  温度特性评估
  
  温度特性测试套件E4991A-007是一种用于测量元件和材料温度特性的新解决方案。该选项在-55°C至+150°C的宽温度范围内提供高度精确的温度特性分析能力，并具有强大的温度漂移补偿功能。
   

  基本准确性

  扫描参数

  更多功能

  多功能测量选项

  • 电介质/磁性材料测量(选项E4991A-002)

  • 可靠的片上测量(选项E4991A-010)

  • 温度特性测量(选项E4991A-007)

  • Windows风格的用户界面

  • 内置VBA编程功能

  • 通过局域网接口传输数据

  • 频率:1兆赫至3千兆赫

  • 振荡器电平:最高1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms

  • DC偏置电平(选项E4991A-001): +/- 40V或+/- 50 mA

  • +/- 0.8 %基本精度

• Windows 风格的用户界面

• 内置 VBA 编程功能

• 通过 LAN 接口进行数据传输

• 介电/磁性材料测量（选件 E4991A-002）

• 可靠的晶圆测量（选件 E4991A-010）

• 温度特性测量（选件 E4991A-007）