[超表面论文快讯-81]Advanced Optical Materials-超构透镜端到端设计用于宽带和宽视场成像-首尔大学

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论文基本信息

• 标题: End-to-End Optimization of Metalens for Broadband and Wide-Angle Imaging

  作者:

  • Yeongmyeong Park（首尔大学 电气与计算机工程系）
  • Youngjin Kim（首尔大学 电气与计算机工程系）
  • Changhyun Kim（首尔大学 电气与计算机工程系）
  • Gun-Yeal Lee（首尔大学 电气与计算机工程系）
  • Hyeongyu Choi（首尔大学 电气与计算机工程系）
  • Taewon Choi（首尔大学 电气与计算机工程系）
  • 通讯作者：Yoonchan Jeong（首尔大学 电气与计算机工程系）
  • Byoungho Lee（首尔大学 电气与计算机工程系）

  发表时间: 2025年2月18日

  发表期刊: Advanced Optical Materials（JCR-Q1，IF=8）

• 论文快览：

解决的问题：
随着移动设备对超小型相机的需求增加，传统的复杂光学系统无法满足轻便和高性能的要求。超构透镜（metalens）作为替代方案，能够提供更薄的光学设计，但由于存在严重的像差，导致图像质量难以满足宽视场和宽带宽成像需求。现有方法难以有效解决这些像差问题，限制了其在实际设备中的应用。

提出的方法：
本文提出了一种新的超构透镜设计方法，通过将孔径止与超构透镜集成，并与基于深度学习的图像恢复算法共同设计，构建了一个端到端（E2E）优化框架。该框架利用可微分的优化模型，优化超构透镜的相位轮廓和图像恢复网络，解决了偏轴像差，如彗差和散光问题，从而提升了图像恢复的质量。该方法不仅减少了计算负担，还能够在宽视场范围内保持图像质量。

实现的效果：
实验结果表明，该方法实现了70°的视场（FoV），并能覆盖整个可见光谱，且具有0.5mm的入射孔径和1.93的f数。与传统设计相比，所提方法在图像重建的峰值信噪比（PSNR）提高了2.5 dB，结构相似性指数（SSIM）提高了0.09。进一步的Zernike分析表明，集成孔径止的超构透镜显著降低了像差，尤其是在35°的入射角下，展现出更好的图像恢复效果。

分析：
这篇论文展示了硬件设计创新和算法创新的结合，提出了一种新型超构透镜的硬件结构设计，同时引入了深度学习优化算法来解决图像恢复中的计算挑战。这种方法在提升光学性能的同时，优化了图像处理效率，推动了超小型高性能成像系统的发展。

论文重要图文：

摘要：超构透镜的端到端优化和人工智能驱动的图像恢复算法最近成为实现超紧凑成像系统的强大工具。然而，由于超构透镜展现出的严重像差，现有方法的成像质量仍然无法满足商业设备的需求。这些像差导致传感器图像严重模糊，给准确的图像恢复带来了巨大挑战。在这项工作中，提出了一种新型的元成像器，通过采用集成孔径止的超构透镜，并使用完全可微分的优化框架与计算图像恢复网络共同设计，从而克服了这一挑战。所提的成像器由单个超构透镜和位于1毫米厚玻璃基板对面的一枚孔径止组成。该配置有效缓解了偏轴像差，如彗差和散光，有助于深度神经网络的图像恢复过程。实验结果表明，该方案在整个可见光谱范围内实现了70°的视场（FoV），并进行全彩色成像。相信这项工作代表了使用纳米光学技术创建超紧凑相机的重大进展。

结论：总之，我们通过利用两种关键策略，试图弥合提出的超构透镜成像器与传统复合透镜模块在成像性能上的差距。首先，我们引入了一种集成孔径止的超构透镜配置，这是一种传统上用于缓解偏轴像差的简单而高效的方法。与没有孔径止的超构透镜单透镜配置相比，这种配置能够在宽视场范围内捕获更高质量的传感器图像。此外，实施一种考虑空间变化的点扩散函数（PSF）的光学模块，通过对像差应用位置特定的修正，增强了去卷积过程。其次，我们采用了一个端到端（E2E）优化框架，共同设计了超构透镜的相位轮廓和基于深度学习的图像恢复网络。我们的实验结果验证了我们的方法在整个可见光谱范围内实现了70°的视场，用于全彩色成像。为了在资源有限的环境中应用，如移动设备和嵌入式系统，采用轻量级的U-Net作为图像重建算法，因为它适用于更快的推理时间和较低的内存使用。紧凑型相机是可穿戴和便携电子设备中的关键组件，除了摄影外，还在3D成像、物体检测和生物识别认证等多个功能中发挥作用。所提出的神经超构透镜成像器展示了利用纳米光学技术实现高保真成像的潜力，可与传统相机媲美。

图1. a) 传统配置和 b) 提议的集成孔径止超构透镜配置的示意图。

图2. 提出的完全可微分的端到端（E2E）框架。我们的元光学图像形成模型由空间变化的PSF生成模型和传感器模型组成，用于形成数值近似的测量图像。通过去卷积恢复后，计算与真实图像之间的损失函数。在反向过程中，通过反向传播更新超构透镜相位轮廓和网络参数的可优化参数。我们使用INRIA Holiday数据集来训练我们的端到端框架。

图3. a) 基于优化相位轮廓计算的传统超构透镜和提议超构透镜在垂直方向（y轴）不同入射角下的MTF曲线。彩色虚实线表示620、532和473 nm波长下的衍射极限成像系统的MTF。彩色虚线和实线分别对应单透镜和提议配置的MTF曲线。b) 在35°入射角下，红色、绿色和蓝色波长的Zernike系数绝对值的平均值。

图4. 使用端到端优化方法学习的超构透镜的实验结果。a) 制作的元器件的光学图像和SEM图像的顶部视图。超构透镜单透镜位于0.5 μm玻璃基板的前侧，孔径止位于其背面，半径分别为0.5 mm和250 μm，成功制造，确立了其超薄器件的身份。b) 提议的ASI超构透镜在0°到40°入射角范围内的测量聚焦效率。c) 提议的和单透镜配置的数值和测量点扩散函数（PSFs）。

图5. 跨多个测试示例的实验重建结果强调了提议设计的优越性。提议的ASI超构透镜结构在对应于30°宽视场角的区域内保持物体信息，而单透镜模型则未能保持，如传感器测量所示（绿色框）。这种信息保持有助于更准确的重建处理。此外，在对应于0°低视场角的区域（粉色框）中的重建准确度也很高。我们利用INRIA Holiday数据集进行了实验验证 。

参考文献：

Y. Park, Y. Kim, C. Kim, G.-Y. Lee, H. Choi, T. Choi, Y. Jeong, B. Lee, End-to-End Optimization of Metalens for Broadband and Wide-Angle Imaging. Adv. Optical Mater. 2025, 2402853.
DOI：https://doi.org/10.1002/adom.202402853

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