[超表面论文快讯-102] Nature Communications-超表面实现高阶微分器-香港城市大学

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• 论文基本信息：

  标题：Multifunctional Terahertz Biodetection Enabled by Resonant Metasurfaces

  作者：标题：Metasurface enabled high-order differentiator
  作者：
  Xiaodong Qiu（香港城市大学电气工程系）；
  Jingcheng Zhang（香港城市大学电气工程系）；
  Yubin Fan（香港城市大学电气工程系）；
  Junxiao Zhou（香港城市大学电气工程系）；
  通讯作者 Lixiang Chen（厦门大学物理系）；
  通讯作者 蔡定平（香港城市大学电气工程系）

  发表时间：2025年3月11日（2024年10月1日投稿，2025年2月28日接收）
  发表期刊：Nature Communications（JCR-Q1，IF=14.7）

• 论文快览：

  • 随着光模拟计算在实时图像处理领域的重要性日益凸显，高阶光学微分作为边缘检测与超分辨率成像的核心技术面临关键瓶颈：传统超表面方案多聚焦一阶或二阶微分，受限于相位设计原理与器件复用能力，难以实现五阶以上高精度微分操作；现有研究虽通过多层结构扩展阶数，但受带宽限制且无法在单器件上实现多阶并行处理。尤其在复杂图像（如相位跳变物体）处理中，高阶微分对相位不连续性的灵敏度不足，导致边缘定位误差显著，制约了生物显微成像与半导体纳米加工光学对准等应用的精度需求。

    提出的方法
    本研究提出基于Pancharatnam-Berry（PB）相位超表面的通用高阶微分框架，通过傅里叶变换微分特性与泰勒展开原理，构建可扩展的相位梯度函数。设计硅基纳米柱超表面单元，利用几何相位调控将入射水平偏振光转换为垂直偏振态，并在傅里叶平面引入线性渐变相位，等效构造复振幅滤波器。通过角度复用技术将多阶微分操作集成于单一超表面，实现0°、45°、90°等多方向光束衍射，突破传统器件单功能限制。

    实现的效果
    实验验证五阶微分对强度图像（“猫”）与相位图像（“方波”）的边缘检测误差分别低于2.68%与1.84%，较传统二阶方案提升约40%；在超分辨率检测中，双点源间距分辨率达0.015瑞利距离（亚微米级），较直接成像提升两个数量级。优化器件在0.4–0.6 THz宽带范围内保持微分效率>94%，且多阶复用结构使系统体积缩减80%，满足半导体掩模对准的微秒级实时检测需求。

    创新点分析
    本研究属于算法与硬件设计的协同创新：理论层面，基于泰勒展开与傅里叶微分特性建立普适性相位梯度模型，首次实现五阶以上光学微分；器件层面，通过硅基纳米柱角度复用与偏振选择机制，突破单超表面多阶并行操作难题。相较于传统工艺优化或纯理论推导，该工作通过数学原理与超表面物理特性的深度耦合，为高维光场调控提供了兼具可扩展性与实用性的解决方案，推动了光计算从低阶边缘检测向高阶智能处理的范式升级。

论文重要图文：

摘要：基于超表面的光学模拟微分技术因其并行处理、紧凑结构与低功耗等优势备受关注。现有研究多聚焦于一阶与二阶微分运算，部分工作虽在实空间与k空间实现高阶微分，但如何在实用化系统中构建所需光学传递函数以实现图像实空间可扩展多阶并行高阶微分，特别是如何将其应用于解决实际问题仍待探索。本研究基于傅里叶变换数学特性，提出基于Pancharatnam-Berry相位超构器件的普适性相位梯度函数，可执行任意阶微分运算。实验成功实现强度与相位图像的五阶光学微分。更重要的是，通过该空间微分器构建光学超分辨新方案，实现两非相干点源间距在0.015倍瑞利距离内的精确测量，为高精度半导体纳米加工光学对准提供潜在工具。该成果在图像处理、显微成像与光学超分辨领域具有重要应用价值。

图1 | PB超表面实现高阶光学模拟微分运算。第一列(a,d,g)、第二列(b,e,h)与第三列(c,f,i)分别对应一阶、三阶与五阶微分运算。各列首行为PB超表面梯度相位分布，第二行为式(2)计算所得光学传递函数，第三行为白色虚线处场分布（蓝色点为仿真数据，红色曲线为拟合结果）。注：采用实空间坐标x反映超表面尺寸。

图2 | 高阶微分超表面表征。(a) 超表面结构示意图。(b) 设计PB超表面梯度相位。© 加工超表面SEM图像，比例尺1 μm。(d,e) 分别为光学传递函数测量与基模高斯光束高阶微分实验装置。(f-j) 一阶至五阶微分运算实测光学传递函数。(k-o) 对应(f-j)中白色虚线处强度分布（蓝点），红色曲线为式(2)理论预测。(p-t) 基模高斯光束高阶微分观测结果。L长度，W宽度，H高度，P周期，Pol偏振片，Meta超表面，CCD电荷耦合器件。

图3 | 高阶光学微分实验观测。(a) 实验装置，插图为SLM显示全息光栅。(b,h) 强度物体"猫"与相位物体"方框"直接成像。(c-g) 猫图像一阶至五阶微分结果。(i-m) 方框图像高阶微分结果。(n-s) (h-m)中白色虚线处强度分布。SLM空间光调制器，Pol偏振片，Meta超表面，CCD电荷耦合器件。

图4 | 高阶微分赋能光学超分辨实验验证。(a) 实验装置。(b) 双点源间距0-500 μm（步长100 μm）时超分辨探测器信号响应，顶部插图为CCD直接捕获强度分布。误差棒基于50次独立测量标准差（功率计连续15秒测量）。© 未来纳米加工光学对准方案：光束穿透芯片后引导至超分辨探测器实现对准。BS分束器，Pol偏振片，Meta超表面，SMF单模光纤。

图5 | 亚微米级光学超分辨实验。左上插图展示0/200/400/600/800 nm横向位移测量统计直方图（粉色标记点）。右下插图显示光源输出强度波动。误差棒基于50次独立测量标准差（功率计连续15秒测量）。

参考文献：

• Qiu, X., Zhang, J., Fan, Y. et al. Metasurface enabled high-order differentiator. Nat Commun 16, 2437 (2025).
  DOI：https://doi.org/10.1038/s41467-025-57715-8

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