linux内核中对nand的坏块管理

闲来无事，追踪了下linux内核中对nand的坏块管理代码。大致记录一下。

内核中对nand的坏块管理是在nand的驱动中实现的，一般情况下，我们在实现nand控制器的驱动时不用考虑坏块的管理，这些机制已经在nand驱动的通用框架中实现了，我们要做的就是在nand驱动的框架上对接上nand控制器私有的操作与参数就可以了，例如读写函数以及nand控制器支持的ecc布局等。当然，这里主要是分析坏块管理的部分，就不多说驱动的开发了。

这里的分析是在bcm7231平台的nand驱动上面分析的。

nand驱动在加载的时候会调用nand_scan_tail函数，此函数的前面大部分是在确定所使用ecc方式和函数指针，以及一个页的读写需要作几次ecc校验等，这些都是根据nand驱动初始化的时候指定的一些参数决定的。在此函数的最后面开始关于BBT的操作：

	/* Check, if we should skip the bad block table scan */
	if (chip->options & NAND_SKIP_BBTSCAN)
		return 0;

	/* Build bad block table */
	return chip->scan_bbt(mtd);

首先会检查chip->options中是否有NAND_SKIP_BBTSCAN选项，如果有，则直接返回，NAND_SKIP_BBTSCAN一般是在nand控制器驱动中选择是否被赋予的，一般不会赋予NAND_SKIP_BBTSCAN选项。如果没有，则调用chip->scan_bbt()函数。chip->scan_bbt()是一个函数指针，一般在nand_set_defaults中被赋值为nand_default_bbt。

首先我们看下struct nand_chip结构体中关于BBT的部分：

 /** 
  *... ...
  * @bbt:		[INTERN] bad block table pointer
  * @bbt_td:		[REPLACEABLE] bad block table descriptor for flash
  *			lookup.
  * @bbt_md:		[REPLACEABLE] bad block table mirror descriptor
  * @badblock_pattern:	[REPLACEABLE] bad block scan pattern used for initial
  *			bad block scan.
  *... ...
  */
struct nand_chip {
    ……
    uint8_t     *bbt
    struct nand_bbt_descr    *bbt_td;
    struct nand_bbt_descr    *bbt_md;
    struct nand_bbt_descr    *badblock_pattern;
    ……
};

bbt是在内存中分配的一块内存（nand_scan_bbt中分配的，后面会说到），这块内存会存放BBT。如果定义了NAND_BBT_USE_FLASH（这个可以在编写nand控制器驱动时选择），会先在nand中查找BBT是否存在，如果存在，然后读出放在bbt中，如果不存在（全新flash会有这种情况），则在bbt中建立BBT，然后写入nand中。如果没有定义NAND_BBT_USE_FLASH，那么会直接在bbt指向的内存中建立BBT。

bbt_td、bbt_md和badblock_pattern就是在nand_default_bbt函数中赋值的3个结构体。它们虽然是相同的结构体类型，但却有不同的作用和含义。其中bbt_td和bbt_md是主bbt和镜像bbt的描述符(镜像bbt主要用来对bbt的update和备份)，它们只在把bbt存储在NAND芯片的情况下使用，用来从NAND芯片中查找bbt。若bbt存储在内存中，bbt_td和bbt_md将会被赋值为NULL。

badblock_pattern就是坏块信息的pattern，其中定义了坏块信息在oob中的存储位置，以及内容(即用什么值表示这个block是个坏块)。通常用1或2个字节来标志一个block是否为坏块，这1或2个字节就是坏块信息，如果这1或2个字节的