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RSS订阅转载 硬盘 SMART 检测参数详解
硬盘 SMART 检测参数详解[转]一、SMART概述 硬盘的故障一般分为两种：可预测的（predictable）和不可预测的（unpredictable）。后者偶而会发生，也没有办法去预防它，例如芯片突然失效，机械撞击等。但像电机轴承磨损、盘片磁介质性能下降等都属于可预测的情况，可以在在几天甚至几星期前就发现这种不正常的现象。如果发生这种问题，SMART功能会在开机时响起警报
2014-04-25 21:13:37
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基于STM32的IAP（InApplicationProgramming）设计
IAP即在应用编程，IAP是用户自己的程
序在运行过程中对UserFlash的部分区域进行烧写，目的是为了在产品发布后
可以方便地通过预留的通信口对产品中的固件程序进行更新升级。该文档对基于STM32的IAP设计介绍的非常详细。
2016-02-26
STM32固件库使用手册的中文翻译版
用户手册 32 位基于 ARM 微控制器 STM32F101xx 与 STM32F103xx 固件函数库,对每一个函数都进行了详细的说明，内容详实，适合初学者参考使用.
2016-02-24
空空如也
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