2301_81826310的博客

IEC 61508、IEC 61511、ISA84等标准中对安全仪表系统整体生命周期有详细的描述，它是一个结构化的流程，各阶段的活动之间并不是孤立存在的，实际上是一个完整的体系，相互之间有一定的逻辑关系和顺序。安全仪表SIS系统的安全生命周期分为3个阶段：即分析阶段、实现阶段、运行阶段。在分析阶段对风险进行管理，主要工作是危害和风险的分析，对降低风险的进行确认。在实现阶段，需要考虑SIS系统采用的技术、结构和测试间隔周期等，并对系统的可用性和安全性进行评估，实现系统的性能要求。

这意味着系统的设计允许有一定的容错空间，但并不要求高度的冗余或复杂的安全措施。无论使用哪个标准作为依据，结构约束模式中的普通模式采用GB/T 20438标准中的1H路径作为计算依据（即设备的硬件故障裕度和安全失效分数），路径模式采用GB/T 20438中的2H路径作为计算依据（即用户反馈的可靠性数据、安全完整性等级增强的置信度和硬件故障裕度）。在SIL验算时，除了重点验算PFD（危险失效率）平均值外，硬件完整性的结构约束评估也是一个重要的评估指标，它是确保安全仪表系统（SIS）达到预期安全性能的关键环节。

我们知道在进行危险与可操作性（HAZOP）分析和安全完整性等级（SIL）评估之后，如果确定需要增加SIS系统降低风险，那么就需要对仪表安全功能（SIF）进行SIL验证。常规的SIL验算过程相对比较繁琐漫长，且常有验算结果无法满足目标SIL等级要求的情况（即无法通过SIL验证），这时候又要回过头分析各种可能原因，可能是SIF设计的问题、也可能是某个仪表设备选型的问题…这是目前SIL验算工作普遍存在的现象。