半导体测试数据STDF V4解析：结构与作用

一、STDF概述与设计目标

STDF（Standard Test Data Format是半导体自动化测试设备（ATE）行业广泛采用的数据交换标准，由Teradyne公司主导开发，旨在解决不同厂商测试系统之间的数据兼容性问题。其核心目标包括：

• 跨平台兼容性：支持不同厂商测试设备生成的数据统一存储与解析。
• 灵活性与可扩展性：通过逻辑记录类型（Logical Record Types）抽象数据，独立于网络或数据库架构。
• 高效数据管理：支持从芯片级到批次级的全生命周期数据记录，满足测试、分析和生产跟踪需求。

STDF V4进一步优化了数据结构的可扩展性，新增多种记录类型，并兼容旧版本（V3）数据格式。其设计哲学强调“最小有效文件”原则，即仅需基础字段即可构成合法文件，但实际应用中需根据分析需求填充更多字段。

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二、STDF文件总体结构

STDF文件由记录头（Header）和记录体（Data Fields）构成，采用二进制格式存储。每个记录以REC_LEN（数据长度）、REC_TYPE（记录类型）和REC_SUB（子类型）开头，形成自描述结构。

1. 文件初始化序列

• 必选记录：每个文件必须包含以下记录并按顺序排列：

  • FAR（File Attributes Record）：首个记录，定义文件属性（CPU类型、STDF版本）。
  • MIR（Master Information Record）：批次全局信息（测试时间、操作员、测试程序版本等）。
  • PCR（Part Count Record）：测试部件数量统计。
  • MRR（Master Results Record）：批次最终结果汇总。

• 可选记录：如**ATR（Audit Trail Record）**用于记录文件修改历史，需紧接FAR之后。

2. 数据流组织

STDF文件遵循分层逻辑：

• 批次级：MIR/MRR定义全局属性。
• 晶圆级：WIR（Wafer Information Record）和WRR（Wafer Results Record）记录晶圆测试信息。
• 芯片级：PIR（Part Information Record）和PRR（Part Results Record）包裹单个芯片的测试数据。
• 测试项级：PTR（Parametric Test Record）、FTR（Functional Test Record）等记录具体测试结果。

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三、核心记录类型详解

1. 文件与批次管理类

• FAR（文件属性记录）

  • 作用：定义文件版本、CPU架构（用于数据字节序解析）。
  • 关键字段：CPU_TYPE（如Sun、DEC）、STDF_VER（版本号）。

• MIR/MRR（主信息/结果记录）

  • 作用：记录批次全局信息（如测试模式、操作员、测试温度）和最终统计结果（如良率、测试时间）。
  • 关键字段：LOT_ID（批次ID）、START_T/FINISH_T（起止时间）、GOOD_CNT（良品数）。

2. 测试执行类

• PTR（参数测试记录）

  • 作用：存储单次参数测试结果（如电压、电流测量值）。
  • 关键字段：RESULT（测量值）、LO_LIMIT/HI_LIMIT（测试限值）、UNITS（单位）。

• FTR（功能测试记录）

  • 作用：记录功能测试的向量执行结果（如引脚状态、失效地址）。
  • 关键字段：FAIL_PIN（失效引脚位图）、VECT_NAM（测试向量名称）。

• TSR（测试摘要记录）

  • 作用：汇总某测试项的统计信息（如执行次数、失败率）。
  • 关键字段：TEST_TYPE（测试类型标识）、EXEC_CNT/FAIL_CNT（执行/失败次数）。

3. 物理与逻辑映射类

• PMR/PGR/PLR（引脚映射记录组）
  • 作用：定义测试通道与芯片引脚的映射关系，支持多站点并行测试。
  • 关键字段：PMR_INDX（引脚索引）、GRP_NAM（引脚组名称）、GRP_MODE（显示模式）。

4. 扩展与自定义类

• GDR（通用数据记录）
  • 作用：存储用户自定义数据，支持多种数据类型（字符串、数组、浮点数等）。
  • 关键字段：GEN_DATA（动态类型字段，含类型码和数据体）。

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四、STDF记录扩展方法

1. 自定义记录类型规则

• 保留范围：REC_TYPE和REC_SUB代码小于200为Teradyne保留，大于200可供用户自定义。
• 示例：定义REC_TYPE=201和REC_SUB=5表示自定义温湿度监控记录。

2. 扩展实践步骤

1. 定义记录结构：确定字段类型（如温度R*4、湿度U*2）。
2. 注册类型代码：确保不与现有代码冲突（如使用201-255区间）。
3. 数据生成与解析：在测试程序中写入自定义记录，并在分析工具中实现解析逻辑。

3. 扩展注意事项

• 字节对齐：使用GDR时需插入填充字段（如类型码0）确保数据对齐。
• 向后兼容：自定义记录应允许忽略未知字段，避免解析失败。

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五、STDF在现代测试中的应用场景

1. 多站点并行测试

   • 通过HEAD_NUM和SITE_NUM区分不同测试头与站点数据，支持高效并行处理。

2. 数据追溯与统计分析

   • 结合ATR记录过滤历史，利用TSR生成SPC（统计过程控制）报告。

3. 失效分析与修复

   • 通过PRR的PART_FIX字段存储芯片修复信息，支持自动化返修流程。

4. 跨平台数据整合

   • 基于FAR的CPU_TYPE实现字节序自动转换，适配异构系统。

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六、总结与展望

STDF V4通过模块化记录设计和明确的扩展规则，成为半导体测试数据交换的事实标准。其核心价值在于：

• 标准化：统一数据格式，降低跨厂商协作成本。
• 高效性：二进制存储与分层结构优化数据体积与解析速度。
• 灵活性：支持从简单统计到复杂诊断的全场景需求。

未来，随着AI驱动的测试分析兴起，STDF可能进一步融入时序数据压缩、异常检测标记等特性。对于开发者而言，深入理解其设计哲学与扩展机制，将是构建智能化测试平台的关键基石。