【深入浅出SSD】SSD 7.7-7.10

7.7 WA测试

1. WA = 闪存写入量/主机写入量
2. 闪存写入量 = 平均WL x SSD容量

7.8 耐久度测试

JEDEC有两份测试协议：

1. JESD 218A：测试方法
   • Direct method：直接法
   • Extrapolation method：推断法
2. JESD 219：workload，工作负荷

概念

TBW：总写入量

FFR（Function Failure Requirement）：整个写入过程的累计功能性错误

Data Retention：长时间不上电SSD保持数据的能力

UBER（Uncorrectable Bit Error Rate）：不可修复的错误比特率，总错误数据/总读取数据量

关于耐久度测试的方法：

Direct method：直接法

对于温度因素：变化策略

Ramped-Temperature approach：所有SSD在一起，高低温间切换

Spilt Flow approach：一半数量的SSD进行低温测试，另一半进行高温测试

7.9 认证

1. SATA协议官方组织

   • Plugfest：开发阶段产品

   • IW(Interoperability Workshop)：量产产品

2. PCIe SIG Compliance Program：PCIe 官方组织

3. UNH IOL NVMe Test：业界著名公开实验室，提供多个领域的测试服务

7.10 SSD performance测试

FOB：刚开封，全新的盘，性能水平最高

Transition：逐渐趋于稳定的状态

Steay State：稳定状态，平时使用的一个状态，此时便可以测试吞吐量，IOPS，延迟

概念

1）Purge：擦除操作，每次性能测试前均进行擦除操作，消除前一次的操作的影响，比如进行随机读写后再进行顺序读写，性能表现将受到影响。

2）Precondition：通过对盘进行IO，使其逐渐进如Steady State的过程。

3）Active Range：测试过程中盘上LBA发送IO命令的范围。

4）Data patten：随机数据

过对盘进行IO，使其逐渐进如Steady State的过程。

3）Active Range：测试过程中盘上LBA发送IO命令的范围。

4）Data patten：随机数据