米客方德SD NAND 掉电测试

SD NAND 异常上下电测试的作用

SD NAND 异常上下电测试是一项关键的测试步骤，对确保SD NAND在不同电源条件下的稳定性和可靠性至关重要。

通过模拟正常和异常电源情况，测试可以验证设备的电源管理功能、检测潜在错误和异常行为，并评估设备在电源波动或突然断电时的表现。此外，测试还有助于验证SD NAND在关键时刻的数据保存和恢复能力，防止数据损坏或丢失。

这项测试不仅有助于提高产品的质量和可靠性，还确保SD NAND符合制造商规定的性能标准，满足用户对数据完整性和设备稳定性的需求。总体而言，SD NAND 异常上下电测试是保障存储设备正常运行的不可或缺的环节。

SD NAND 异常上下电测试电路的搭建

在测试SD NAND的可靠性时，可以自己搭建一个简单的电路来对SD NAND进行异常上下电测试，
下面是以MK-米客方德工业级SD NAND存储芯片MKDV1GIL-AST为例搭建的建议测试电路。

以正点原子的STM32F103ZET6开发板作为控制信号输出，只需要STM32的一个IO口作为信号控制引脚，即可让接在继电器的负载端的SD NADN工作电路在工作时异常掉电。

这个方案是SD NAND直接接在读卡器上的，还可以设计成SD NAND接在单片机上的，这种需要两个单片机开发板，一个用来控制，一个用来正常工作，这种方案会更方便，也能实现更多的功能。