PNI12927磁场强度传感器--金属检测实现方案

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驱动代码就不共享了，模拟SPI驱动就行

读取数据一共是三步

1.设置时钟周期计数

2.创建一个读取任务，等待芯片处理完成

3.读取数据

本文主要表达我对这个芯片检测金属的几个想法

1.最简单的检测

有金属靠近，传感器输出1，亮灯

没有金属存在，灭灯

这是理想状态的情况，传感器输出认为是一个非此即彼的状态。

代码实现

uint8_t sensor(void)
{
	if("金属靠近")
		return  1;
	else 
		return 0;
}

2.阈值检测

如果编写了传感器的驱动程序，会发现，数据并不是一个非此即彼的简单模型。

传感器在静止的状态下，测量值近乎稳定，但是仍有几个数值的变化

此时就要考虑怎样识别是否有金属靠近。

观察测量数据，当金属靠近的时候，一轴或者多轴会有一个较大的数值变化

假设当前只考虑一轴。

如果正常状态，传感器测量值在3附近变化，有金属靠近时，数值变为50，设定一个阈值，如果超过这阈值，认为是金属靠近，如下，设定阈值为30，超过这个值就认为是存在一个金属物

#define threshold 30
uint8_t sensor(void)
{
	uint8_t res;
	res = 	(sensor_data > threshold)?
			1:0;
}

3.差值阈值

考虑显示条件，我不可能去测不同地点、时间、温度等不同环境下的初始数值，这是一个十分庞大的数据量，不能将阈值设为传感器检测的值

这里可以关注到一件事情，那就是有金属靠近的时候，其实传感器数值是会产生一个变化的

那么，可以以传感器变化的差值作为阈值去检测金属靠近

#define threshold 30
uint8_t sensor(void)
{
	uint8_t res;
	
	//本次测量数据减去之前的测量数据
	res = 	(sensor_data - old_sensor_data > threshold)?
			1:0;
}

4.将时间纳入检测条件

上面的程序其实有个问题，那就是我检测的是本次和上次两次的数据差

那如果我传感器测量的数据是缓慢变化的，阈值不是始终没有过头?

此时，时间也应该是衡量的一个标准

假如下图是测量的数据，在一个时间段的波形图，可以看出，在10左右是有东西靠近的

代码实现

#define THRESHOLD 30
#define ARRY_SIZE 10
uint8_t arry[ARRY_SIZE];
uint8_t arry_ptr = 0;

uint8_t sensor(void)
{
	uint8_t res;
	uint8_t min;
	uint8_t max;
	
	//数据进入缓存区
	arry[arry_ptr] = sensor_data;
	
	//移动读写指针
	arry_ptr++;
	if(arry_ptr >= ARRY_SIZE)
		arry_ptr = 0;
	
	//计算最大最小值
	for(uint8_t i=0;i<ARRY_SIZE;i++)
	{
		min = 	min > arry[i]?
				arry[i]:min;
				
		max = 	max < arry[i]?
				arry[i]:max;
			
	}
	
	//返回状态
	res = 	(max - min) > THRESHOLD?
			1:0;
}

5.阈值也应该是自动获取的

传感器在不同环境下，得到的参数是不一样的

简单点说，我现在阈值是20，跑的很正常，但是如果换个环境，阈值是200，可能都不是一个正常的状态

这个时候，阈值给定值是个很不明智的做法

方法1：

读取一段数据，计算这个时间内出现的最大差值，以它为基数乘一个系数做为阈值

方法2：

将每次的进入的数据记录下来，计算出出现频率最大的数据，这个值作为基准值，乘一个系数作为阈值

方法3：

外部矫正，测量到金属的时候，传递一个信号给MCU，告诉系统，这个时候就是有金属被检测到的

方法4：

初始化置零，在开机的时候，就计算出一个偏移量，这个偏移量加上静止值应该为0，如果有金属靠近，相加的和肯定不是0

6.异常值去除

传感器检测应该是允许存在检测异常的，这个异常可能是电路问题导致，也可能是程序问题导致

但是设备必须能适应各种环境因素，至少能够有能力抵抗一些异常因素

如下图，金属靠近是有个曲线变化过程的

可以将对极值两端做检测，是否有一个曲线变化过程，如下图

测量周期存在一个极小的尖峰值，可以认为是没有金属靠近的

7.类过采样检测

这是参考MCU串口通信检测机制，如果细看芯片数据手册，例如STM32的串口通信部分

会提到一个过采样的理念

大致意思是，见到一个高电平之后，会以当前波特率的倍频去连续检测几次，如果都是高电平，或者大部分是高电平

认为本次拿到的是一个1，否则是0.

但是还有个问题，像按键处理，存在一个抖动的问题，串口在这方面的处理是，不取检测到高电平之后的信号，而是取脉冲中间的数据

来个图

假设这是传感器拿到的数据，在7的时候，拿到了数据，有金属靠近，但是此时程序里面是还没有下定论说金属被检测到了

而是要在第9和第10个数据位的时候，重新拿两次数据，像图里面，将会有两个高电平

那这个时候，就可以下结论检测到数据了

当然也有人会说遇到下面情况怎么办

其实很简单，东西坏了，换新的

抗干扰不意味着要抵抗所有异常数据，只有大部分是正常的数据，中间出现几个异常状态，抗干扰才有意义

否则连人都不能分辨干扰和数据，机器又怎么去分析数据