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一、数字IC设计的流程
- 数字IC设计大致上是分为前端和后端设计,前端设计就是从输入需求到输出网表的过程。根据需求制定Spec并进行RTL设计,包括把各种IP集成在一起,芯片功能完成后需要做DFT测试(在芯片内部引出引脚,方便后续对芯片的功能进行测试,功能是否达到要求,确保功能的正确性和完整性),最后是进行综合输出网表给后端。然后后端设计就是从输入网表到输出GDSII(描述掩模几何图形的标准,二进制格式,用来制作光刻掩模版,内容包括层和几何图形等信息。GDSII用于芯片的生产,也可用于制作MilkWay物理库。)的文件过程。后端设计就是物理实现的过程,一般在做block(模块)时,根据top划分的形状和要求进行floorplan(版图物理规划),之后有placement(单元布局与优化)、clock(时钟)、clockpot(时钟树综合)、route、routeopt(详细布线)、chip_finish、抽Starrc、sta、eco、以及pv等步骤,可能还会包括功耗分析和DFM问题,最后生成的物理版图以GDSII的文件格式交给芯片代工厂进行流片。
- 系统设计规划
模块设计(HDL输入、验证)→顶层模块集成 →顶层验证 逻辑综合、可测性设计插入→ 形式验证(RTL级与门级)→ 静态时序分析 (以上是前端logic synthesis)→版图物理规划(floorplan)→单元布局与优化(placement)→时钟树综合(**clock tree synthesis)**→详细布线(route)→信号完整性分析(形式验证(布局网表与Ct网表)SI Driven Routing)→寄生参数提取(RC Extraction)→静态时序分析(timing signoff)、后仿真(以上是后端)→工程更改命令→静态时序分析、后仿→物理验证→形式验证。
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