4 MCU设计策略和EMC特定特性
在新产品的初始规格阶段,一旦识别出EMC(电磁兼容性)的限制,就会实施专门针对EMC的特性。正是MCU(微控制器单元)的目标应用施加了这些限制。请参阅特定产品的数据手册,以了解下图中描述的这些特性中哪些是嵌入的。
图11 MCU嵌入的硬件固件属性概览
4.1 易感性
4.1.1 电源低电压复位(BOR)
BOR的目的是确保微控制器始终在其安全工作区域内工作(见图13)。在电磁兼容性(EMS)方面,BOR的存在使微控制器更加健壮。它还确保如果任何外部干扰影响电源供应,应用程序可以安全地恢复。
当VDD低于最低工作VDD时,微控制器的行为不再有保证。没有足够的电力来解码/执行指令和/或读取内存。当VDD低于BOR电平时,微控制器进入复位状态(内部复位高),以防止不可预测的行为。
为了避免微控制器重新启动时振荡,存在几个具有滞后特性的电平。当发生BOR时,硬件会设置一个位。这个位被用来恢复应用程序。
低电压复位功能在VDD供电电压低于VIT-参考值时生成一个静态复位。
这意味着它既保护了上电过程,也保护了下电过程,使微控制器保持在复位状态(见图12)。
电压下降的VIT-参考值低于上电时的VIT+参考值,以避免寄生复位。这是微控制器开始运行并在供电上吸取电流时的情况(滞后)。
BOR电路在VDD低于以下值时生成复位:
• 当VDD上升时低于VIT+
• 当VDD下降时低于VIT-
BOR功能在图12中进行了说明。电压阈值可以通过选项字节配置为低、中或高。
如果最低VDD值(为振荡器频率保证的)高于VIT-,则MCU只能处于两种模式之一:
• 完全在软件控制下
• 在静态安全复位中
在这些条件下,应用程序始终确保安全操作,无需外部硬件复位。
在低电压复位期间,NRST引脚被保持在低电平,从而允许MCU复位其他设备。
注意:BOR允许设备在没有任何外部复位电路的情况下使用。
BOR是一个可选功能,可以通过选项字节选择。请参阅产品规格。
图12. 低电压复位与复位的对比
4.1.2 可编程电压检测器 (PVD)
这个特性和BOR一样,提高了电磁兼容性(EMS)性能。它确保当电源受到外部噪声干扰时,微控制器能够安全地工作。
PVD也有不同的电平(大约比BOR电平高200毫伏),它在由BOR引起的复位之前提供了一个早期警告。当PVD阈值被越过时,会生成一个中断,请求例如一些用户操作或在中断程序中准备应用程序关闭,直到电源供应回到设备的正确电平(参考产品数据手册)。
示例
如果CPU频率在8 MHz到16 MHz之间,最低工作电平是3.5 V。电压检测器功能(PVD)基于模拟比较,比较VIT-和VIT+参考值与VDD主电源。下降电压的VIT-参考值低于上升电压的VIT+参考值,以避免寄生检测(滞后)。
PVD比较器的输出可以通过实时状态位(PVDO)直接被应用程序软件读取。这个位是只读的。
PVD电压阈值相对于通过选项字节配置的选定的BOR阈值(参考相应的产品数据手册)。
如果启用了PVD中断,当电压越过VIT+(PVD)或VIT-(PVD)阈值时,会生成一个中断(PVDO位切换)。
在电压下降的情况下,PVD中断作为一个早期警告,允许软件在BOR复位微控制器之前安全地关闭(见图13)。上升沿的中断用于通知应用程序VDD警告状态已经结束。
如果电压上升时间\( t_{rv} \)小于256或4096个CPU周期(取决于微控制器的复位延迟),则当达到VIT+(PVD)时,不会产生PVD中断。
如果\( t_{rv} \)大于256或4096个周期,那么:
• 如果在达到