相控阵天线:基于液晶移相器的液晶相控阵的相关知识

一、相控阵原理

1、相控阵即通过控制天线阵列中各个单元的馈电相位以具有波束自动扫描功能的阵列天线。
2、对于二维相控阵天线,其馈电相位可由下式计算:
在这里插入图片描述
其中,(θ0,φ0) 为阵列天线的波束指向;αx与αy为相邻阵列单元之间的馈电相差;dx与dy为相邻阵元之间的间距。
3、单元间距:在设计相控阵天线时,对于单元之间的间距的选择首先需要考虑的是在进行大角度扫描时不会出现栅瓣;而在实际的工程设计中,往往需要在项目指标的基础上对扫描角度进一步的扩大,以避免在最大扫描角处出现栅瓣。
4、互耦:在设计过程中需要分析相邻阵元之间的耦合度,单元之间的耦合度的大小会对最终的阵列的性能造成影响。在设计时可以利用电磁仿真软件对天线的互耦进行仿真分析。

二、液晶材料特性

液晶是一种介电各向异性材料,在外加电场作用下液晶介电常数会随之发生连续变化,且随工作频率增加,液晶对微波的损耗并无明显变化。因其所具有的随着外加电压变化,介电常数可调以及在毫米波频段的损耗小的特性,是应用于毫米波频段相控阵的一个优良选择。

2.1 液晶材料的介电常数可调性

图2.1为在施加三种电压时液晶分子的偏转情况。可以看出:(1)当施加的电压小于起始阈值时,由于取向层的作用此时分子方向垂直于外加电场,此时液晶材料的相对有效介电常数为ε_⊥;(2)在随着电压逐渐增大的过程中,液晶分子逐渐发生偏转,随之液晶的相对介电常数也会发生变化;(3)当施加的电压大于饱和电压时,此时的液晶分子会与外加电场的方向平行,此时的相对介电常数为ε_∥。因此随着外加电场的变化,液晶的介电常数便会在ε_⊥和ε_∥之间变化。
在这里插入图片描述
图2.1 液晶施加不同电压时的分子偏转情况。Vth为起始阈值电压,Vsat为饱和电压

对于在微波器件中的应用,液晶材料需要有低损耗以及较大的介电常数可调范围。具有较大的介电常数可调范围可以使得液晶移相器的相位可调范围更大,更能满足相控阵在实现大角度波束扫描范围时的馈电相位需求。
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图2.2 利用液晶材料时的偏压加载方法

2.2 液晶介电常数的测定

在实验测试中,为了确定液晶材料的介电常数变化范围常用谐振法进行测试。
(1)在仿真软件中进行仿真,通过改变液晶的介电常数仿真得出不同的谐振点;
(2)对所仿真的液晶天线进行加工,在测试过程中通过改变外加偏置电压的大小,得到一系列的谐振曲线;
(3)将测试结果与仿真结果进行对比拟合,便可以得出所需测定的液晶材料的介电常数的可调范围。

三、基于液晶移相器的相控阵天线

3.1 液晶移相器的设计

在相控阵天线中,移相器用于实现对每一个阵元的馈电相位的控制,从而实现天线阵列的波束扫描;在目前的常用设计中,移相器往往是独立于天线而单独设计的,这样增加了整个相控阵阵列的设计难度与工作量,且移相器与天线单元之间的失配也会对相控阵天线的性能造成影响。
采用液晶移相器可以将天线辐射单元、馈电网络以及移相功能进行一体化设计,避免了移相器与天线之间的失配对于天线阵列的性能造成的影响,且有利于相控阵天线的小型化设计。

3.2液晶移相器的偏置与测试

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图3.1 偏置电路示意图
偏置电路的作用主要是为了在液晶上加载电压,通过改变电压的大小以改变液晶的介电常数。但是在加载直流电压的时候也需要注意射频信号与直流信号的干扰,需要防止射频信号流入偏置电路中。故在移相器和偏置线连接处相距四分之一导波波长距离处增加一段长度也为四分之一导波波长的开路线,使得移相器和偏置线连接处对于射频信号等效开路,实现了射频信号与直流信号的隔离。
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图3.2 测试电路示意图
在进行测试时,为防止外部偏置信号流入矢量网络分析仪导致仪器损坏需在矢量网络分析仪和待测器件(液晶移相器)之间增加了射频隔直器,通过计算机的上位机软件输出电压控制命令,FPGA 波控板接收控制命令后将其转化成偏置电压,最后经FPC软带线馈入液晶移相器的偏置电路中给蛇形微带线和地板之间施加电压,偏置电压采用低频方波信号调控液晶,改变微带线衬底液晶的介电常数,达到移相的目的。

3.3天线阵列的直流闭锁结构

为了防止偏置电路中的直流信号对天线阵列的功分网络产生影响,往往需要设计直流闭锁结构;利用电磁耦合使移相器与功分网络不直接连接,利用微带线之间的耦合,完成非接触式的互联,可以有效的减小偏置电路对于馈电网络的影响。
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图3.3直流闭锁结构示意图

3.4 液晶天线的测试

1、和差波束校准
在实际测试过程中,具体的电压所对应的相移值往往是难以确定的,因此在实际的操作过程中需要对移相公式进行一定程度上的校准。
和差波束校准即在未加电压时液晶移相器的移相值为0;然后调整电压值,测试天线的方向图,使其产生对称的差波束,此时电压值所应的相移为180°;再继续调整电压值,使其方向图只具有一个波束,此时对应的相移值便为360°;最后,根据所测定的两个特殊值对移相公式进行校准,以得到更为准确的移相公式。

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