NFA100-E 闪存测试仪

NFA100-E是一套功能强大且极具灵活性的Nand Flash分析系统，它最大限度地满足用户的对于Nand Flash的信息分析需求以及对这些信息的再处理需求,用户还可以通过API和脚本（Script）来扩展任何自定义的测试或分析功能。

NFA100-E主要面向：企业闪存控制开发人员、高校教授及硕士、博士进行闪存研究、以及各种特殊单位进行闪存的安全性、可靠性研究的研发人员。

技术指标：

1、支持最新制程3D Nand Flash，1x nm以及25nm，34nm，56nm制程Nand Flash；

2、支持SLC，MLC，TLC，eMLC；

3、支持8位和16位异步Flash；

4、支持同步，Toggle Flash；

5、支持Micron、Toshiba、Samsung、Intel、Sandisk，Hynix厂商所有常规Nand Flash；

6、支持TSOP48，BGA63，BGA100，BGA132，BGA152封装；

7、可以定制开发非常规封装、自定义封装Nand Flash。

性能指标：

1、通过USB2.0接口测试设备内部连接工控电脑，计算由测试主板FPGA完成，对工控电脑资源消耗极低，USB2.0仅仅是将计算结果反馈给软件，因此不会对性能产生任何影响；

2、测试效率主要取决于所需要测试Nand Flash的接口性能以及所需测试项目的内容，如：测试P/E cycle，所需时间完全取决于测试Block数量、测试pattern，及Nand Flash接口的性能。

特殊用途：

1、测试客户自主开发的BCH ECC或者LDPC强度；

2、测试Read Retry

3、对Nand Flash进行电压拉偏测试；

4、对Nand Flash进行物理烧毁测试；

设备简介：

 NFA100-E是一套功能强大且极具灵活性的Nand Flash分析系统，它最大限度地满足用户的对于Nand Flash的信息分析需求以及对这些信息的再处理需求。1. NFA100-E最大限度地提供NAND的各种原始信息。    对NAND的原始信息只能通过对NAND发送各种命令，同时读取返回的结果来判断，NFA100-E除了可以发送擦除、写入、读取、重置、获取ID等简单的命令外，还能发送诸如set feature/get feature等命令，可以很容易实现Nand Flash的诸如ReadRetry（RR）等方面的测试。
     NFA100还能发送用户自定义的command (1-byte command)，可支持于客户的一些特殊测试。2. 有能力对各种原始信息进行再处理    NFA100-E有很强的对原始信息的再处理能力，瑞耐斯也可以开发各种算法为客户提供建议或者定制服务。比如坏块扫描和管理、Nand Flash等级筛选等。    NFA100-E为客户提供了一个完全开放的平台，非常方便客户自行按照自己的需求设计各种测试。
NFA100-E支持所有主流Nand Flash，对于非主流Nand Flash，可以根据客户Datasheet进行添加功能，使之支持。

更多测试设置，请参考http://www.renice-tech.com/html/2015/04/22/201504221227042924221085.html

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