Samtec技术Demo | 优秀的PCIe 6.0性能:Rohde & Schwarz公司VNA验证Samtec高速电缆

本文介绍了在Design-Con2023上,Rohde&Schwarz的ZNA矢量网络分析仪与Samtec的Si-Fly™SI评估套件配合,展示了PCIe6.0高速电缆组件的优异性能,包括插入损耗、回波损耗测量以及Si-Fly的独特ASIC兼容设计。
摘要由CSDN通过智能技术生成

【摘要/前言】

Design-Con 2023的现场产品演示展现了Samtec Flyover®高速电缆组件和Rohde & Schwarz®ZNA矢量网络分析仪的杰出PCIe 6.0性能

在本期的视频中,Rohde & Schwarz公司的VNA产品规划经理Greg Vaught和Samtec公司的技术营销经理Matt Burns带领我们完成了设置,并描述了产品和测量结果。

演示细节】

一台Rohde & Schwarz公司的ZNA 67矢量网络分析仪Samtec Si-Fly™ SI评估套件相连,在一条Eye Speed®超低Skew twinax电缆上进行差分输入和差分输出测量。

图1:Rohde & Schwarz公司的ZNA67提供了频域测量和时域概况

ZNA 67显示了插入损耗(IL)回波损耗(RL)等频域测量,频率高达 67 GHz。这两项测量都通过了PCIe 6.0规范中定义的配置文件。


在时域,我们看到一个TDR测量,帮助我们定位信号路径上的连接器和电缆过渡。睁开的眼图显示了沿Si-Fly™低剖面电缆系统的开放信号路径。(见图1)。

图2:ZNA67的去嵌功能,显示了开启和关闭的结果

Greg还讨论了ZNA的去嵌功能,显示了去嵌开启和关闭的结果(见图2)。这消除了夹具的影响,如插入损耗和反射,只显示Samtec电缆组件本身的插入损耗、回波损耗和时域结果,而没有夹具。

DUT(Device Under Test)是一个Samtec Si-Fly™ SI评估套件。它采用了Samtec Flyover® Cable技术,特别是Si-Fly连接器系统。Si-Fly™被设计成一个ASIC相邻的互连系统。它允许设计者直接断开将从ASIC到Si-Fly™的互连信号,然后使用我们的超低Skew Eye Speed® twinax电缆将高速信号--如112 Gbps PAM4,或PCIe 6.0(64 GTs)--传输到前面板或背板。

Si-Fly™是一个超低轮廓的电缆组件。它在板上只有3.8mm高,而且可以放在散热器或其他冷却硬件下面。它最多可提供16个差分对,每条通道的额定速度为112 Gbps PAM4

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