磁编芯片 MT6701 SSI接口调试

磁编芯片 MT6701 SSI接口调试

  最近调试MT6701磁编芯片SSI接口的驱动程序，数据很早就读出来了，但是CRC校验一直不过。

  MT6701的CRC校验采用CRC-6校验，多项式为 X^6+X+1。于是去网上找到了CRC6_ITU程序，多项式一致。并且使用测试数据分别对CRC6_ITU程序和网上的CRC计算器的计算结果进行了比对，也都是一致的，因此就一直没有怀疑是CRC计算的问题。

  后来以为是SSI接口数据读取时序有问题导致的数据错位，从而导致CRC校验错误。于是花了很大时间调整和验证SSI接口的数据读取时序，不过最终CRC校验仍然通不过。

  最后联系到厂家，给了一份crc计算的程序，用这个程序一算，这下就对了。转动磁铁，角度数据也跟着改变，也再无CRC校验错误，磁铁静止不动时，数据也会保持稳定。

  相关CRC计算程序如下：

//for mt6701 crc-6 check 
uint8_t crc6_itu(uint8_t *data, uint32_t length)  
{  
    uint8_t i;  
    uint8_t crc = 0;    // Initial value  
    while(length--)  
    {  
        crc ^= *data++; // crc ^= *data; data++;  
        for (i=6; i>0; --i)  
        { 
            if (crc & 0x20)
                crc = (crc << 1) ^ 0x03;
            else
                crc = (crc << 1);
        }
    }  
    return (crc&0x3f);  
}

  可以看出，这个CRC-6的程序与网上广泛流传的CRC6_ITU标准程序相差较大。

  对于国产传感器芯片，希望厂家能完善产品相关资料。如果MT6701一开始就提供了测试demo，甚至只提供相应的CRC计算代码，我都不用浪费这么多时间在SSI接口调试上。

  记录下这份经历，希望能为使用MT6701或相关型号的产品人提供到一些帮助。