手机常见干扰问题分析与解决方法

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手机常见干扰问题分析与解决方法

1.LCM影响天线的耦合测试

现象描述:屏灭,屏灭影响到天线的耦合测试(C732LV)
原因分析:LCM的工作频率与天线频率接近,LCM在工作时会对天线产生干扰。
具体原理:要修改LCM的工作频率,我们需要对LCM的相关时序有一个大致的了解。
每秒传输速率计算公式:

这里写图片描述
Total pixel = H-total * V-total *60 (Mbps)
V = Vsync 场同步信号。VSYNC有效时,接收到的信号属于同1 Frame
H = Hsync 行同步信号。HSYNC有效时,接收到的信号属于同1行。
60 = FPS也就是刷新频率
bp = Back-porch 后沿信号
Fb = Front-porch 前沿信号

这里写图片描述
LCM的工作频率和传输速率存在一定的关系,当发现干扰时,实际我们就是通过修改相应的时序来改变传输速率进而改变LCM的频率,来错开干扰频段。Vbp与Hbp一般不去修改,这两个脉冲会定位我们图像的基准点(如上图蓝点),如果修改会导致图像的移动;Pulse与Skew,不去修改;Vactive与Hactive为实际图像的显示脉冲,不去修改;所以实际代码中,我们也就是来修改Vfp与Hfp的参数来改变频率,避开干扰。当然我们也可以直接去修改LCM的刷新频率来解决问题。

解决思路:1.修改LCM代码中Vfp与Hfp的参数来改变工作频率
2.修改LCM的刷新频率
如下图以732booyi的屏为例
这里写图片描述

2.LCM对TP的电磁辐射干扰

现象描述:TP无故跳点,且会出现漂移,且固件方面已无优化空间(C730LW)

原因分析:可以通过以下两种方法来分析LCM干扰的问题。
方法一:分离TP与LCM,观察跳点与偏移问题
方法二:用1元硬币放在LCM上,启动显示,用示波器探头点硬币上,观察波形是否存在毛刺,再对比看看好的屏是不是感应的电压比较低

解决方法:遇到此问题,我们优先考虑修改TP固件来做一些抗干扰操作,但是如果项目本身使用的是自容的TP,硬件抗干扰性能就很差,我们就需要牺牲LCM一点性能,修改点翻转方式为列翻转,来降低电磁辐射解决问题。
根据芯片文档,我们可以看到翻转方式的寄存器为B4,D0、D1、D2三位决定翻转方式,000为列翻转,依次为1-dot/2-dot/3-dot/4-dot翻转方式。
这里写图片描述
找到代码对应的DTS配置,修改对应的寄存器配置
这里写图片描述

3.电源与充电器对TP的共模干扰

现象描述:插上充电器或者在电源附近会产生强烈,TP会产生强烈的跳点(E551)

原因分析:
下面是一张手机充电器的主要器件示意图
这里写图片描述
现在的充电器都是开关电源,即由IC控制开关管的导通和闭合,开关的频率会高达60kHz~130kHz。高频的开关频率能提高电源的效率,但由此会引发另一个负面问题:干扰。开关管在高速导通和闭合的时候,会形成一个高频干扰源,高频干扰信号会由变压器耦合到低压端,再到手机设备,最后由大地流回去。手机和大地之间虽然没有直接的电气连接,但别忘了高频信号可以在空间中传播,比较收音机的信号。从而形成一个干扰信号回路,干扰强度的大小,是和回路包围的面积成正比的(有个计算公式,我这里就不列了),回路面积越大,干扰越大。下面是一张抽象的示意图。

这里写图片描述

为了减少高频干扰,电源里会加入Y电容(不是所有的电源都会加Y电容,有些小功率的电源是可以做到不加Y电容,也能达标)。Y电容的值会比较小,通常是pF和nF的级别,只能通过很高频率的信号,不会通过对人体有危险的交流电和直流电。下面是加了Y电容的电路图。
Y电容的加入,相当于在两个电路中间搭了一座桥,使得干扰信号流会去,这样整个干扰回路面积就会变小,对外干扰的强度也就减少。下面是简化的框图。
这里写图片描述
解决思路:通常电源与充电器引起的过大干扰,都是其本身结构不合理导致,一般绝大多数厂商都会按国家规格,不排除极个别情况,TP固件方面是可以做抗干扰措施,但是势必会牺牲性能,而且如果是低端自容屏TP,干扰很难彻底消除。所以具体解决方法需要整个项目去把控,在相对不发达地区,项目伊始,最好考虑到此问题,可以减少后期的隐患。

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