HIOKI IM7585阻抗分析仪IM7580

HIOKI的IM7585阻抗分析仪以其0.5ms的快速测量时间和0.07%的测量偏差,提供了高精度LCR测量。配合IM9201测试治具,适用于多种SMD尺寸,同时具备紧凑设计和丰富的功能如DCR测量和Hi-Z筛选。
摘要由CSDN通过智能技术生成

HIOKI IM7585阻抗分析仪
阻抗分析仪IM7585高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:zuì 快0.5ms,测量值偏差0.07%。

阻抗分析仪IM7580系列:使用SMD治具IM9201进行LCR测量:
 IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz?3GHz。
 和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用,能够简单准确的测量样品。

阻抗分析仪IM7580系列:测试头的连接方法:
测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母(0.56 N?m)。
 请注意不要拧过头。
日置阻抗分析仪IM7585产品特点:
 测量频率:1MHz~1.3GHz
 测量时间:-快0.5ms(模拟测量时间)
 测量值偏差:0.07%(测量频率1GHz时的代表值)
 基本精度:±0.65% rdg.
紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小
丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪的测试治具
 

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