使用PXI设备做IC的开短路测试

1、 为什么需要Opens和Shorts测试？
开短路测试（也称为连接性或接触测试），在设备测试阶段，连接性测试会应用于DUT的所有信号引脚，以确保DUT的所有信号引脚都没有彼此相连，也没有与电源或地连接。
设备的成本与测试设备所需的时间有很大的关系。最快减少每个设备平均测试时间的方法之一是尽早发现到有问题的设备。开短路测试可以很快的定位一些基础问题，比如设备是否有短路引脚，是否缺失bond wires，是否有由静电导致的引脚损坏，工业缺陷等等。
开短路测试可以排查到测试系统是否存在一些问题，如探针卡或设备插座是否连接正确。
2、 静态串行开短路测试方法
一般开短路测试的测试条件不会写在设备规格书或数据表中，该测试方法和数据具有规定好的参数标准和测试流程。
开短路测试，首先需要将设备的所有引脚接地，包括电源和地引脚。然后，将PMU与某个设备引脚连接，并施加一个电流值，该电流将使一个保护二极管中正向偏压（如下图所示）。负电流将二极管正向偏置到地；正弦电流将二极管偏置到VDD。这个电流值可以被赋值为100uA-500uA。一旦施加了电流，由于二极管的板胡架构，会对偏置电压造成一定的压降（通常0.65V）。这个感测到的压降可能会由于使用不同的技术和设计有变化，不过0.65V是大多数设备硅材料的偏置电压。
当PMU被编程为输出电流时，在测试开路引脚时，需要提前设定好电压钳位以便限制产生较大的电压值，造成设备的损坏。开短路测试的一般设置的钳位值为3V。当一个开路的引脚被测试时，系统最高输出的电压值为3V。
串行/静态开短路测试的优势是它陪随着DC测试一同进行——即在获取Pass/Fail结果时&#