Agitek分享|功率器件动态参数测试系统选型避坑指南
C随I和L的增大而增大,随V和Kv的增大而减小。高压器件为了满足高压的测试需求,须选择耐压值高的母线电容,但此类电容容值较小,如用该电容来测试低压器件,能够实现的最大电流将大打折扣。此外,由上图可知,在测试电压相同,负载电感越小可实现的最大电流值越大,为了满足低压器件大电流的要求,也应选择感量更小的负载电感。当驱动电路回路电感过大时,会导导致驱动波形出现严重震荡,同时驱动回路还容易受到器件在开关过程中产生的高di/dt的干扰,进一步加剧震荡,可能导致器件栅极过压击穿、器件误导通导致桥臂直通。
原创
2023-07-06 11:44:29 ·
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