使用4200A-SCS参数分析仪实现对器件的C-V测量-安泰测试Agitek
例如,C-V测量用来确定以下器件参数:MOSCAPs的栅极 氧化 物电容、 MOSFET 输入和输出电容、 太阳能电池 的内置电位、 二极管 的多数载流子浓度、BJT端子间的电容、 MI S 电容器 的氧化物厚度、掺杂密度和门限电压。最后,器件本身可能会导致测量问题。CVU可以测量和显示以下参数:阻抗和相位角(Z,Theta),电阻和电抗(R+jX),并联电容和电导(CP-GP),串联电容和电阻(CS-RS),并联电容和杂散因子(CP-D),串联电容和杂散因子(CS-D),导纳和相位角(Y,theta)。
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2023-07-18 11:30:46 ·
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